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Quasi-Campo di XE-NSOM che Scandisce Microscopio Ottico (NSOM) e lo Spettrometro di Raman dai Sistemi della Sosta

Il XE-NSOM specialmente è progettato ed adattato per le misure ottiche avanzate compreso il Quasi-Campo che Scandisce la Microscopia Ottica (NSOM) e la Spettrometria di Raman. Il XE-NSOM offre un sistema completo del AFM installato con l'adattabilità senza precedenti per questi esperimenti ottici. Il Z-Servo scanner ad alto rendimento del XE-NSOM supporta il Vero AFM Senza contatto ed utilizza alla la tecnologia a circuito chiuso basata a a mensola di feedback.

Funzionalità

  • Integrazione Senza Cuciture del AFM e delle misure ottiche
  • La progettazione modulare Espandibile supporta il AFM, NSOM e la Spettroscopia di Raman
  • Versatilità che supporta i vari tipi trasmissione/del riflesso
  • La progettazione capa Ottica consente l'accesso sperimentale conveniente al campione
  • Allineamento Facile delle asce ottiche al sistema di rilevamento del fotone

Last Update: 15. July 2013 04:43

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