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광학적인 현미경 (NSOM) 및 공원 시스템에서 라만 분광계 검사 XE-NSOM 가깝 필드

XE-NSOM는 광학적인 현미경 검사법 (NSOM) 및 라만 분광분석을 검사하는 가깝 필드를 포함하여 향상된 광학적인 측정을 위해 특별히 디자인되고 맞추어집니다. XE-NSOM는 이 광학적인 실험을 위한 전례가 없는 적응성으로 설치된 완전한 AFM 시스템을 제안합니다. XE-NSOM의 고성능 Z 자동 귀환 제어 장치 스캐너는 확실한 몸의 접촉이 없는 AFM를 지원하고 공가 기지를 둔 닫힌 루프 의견 기술을 이용합니다.

특징

  • AFM와 광학적인 측정의 원만한 통합
  • 업그레이드가 가능한 모듈 디자인은 AFM, NSOM 및 라만 분광학을 지원합니다
  • 각종 반영/전송 형태를 지원하는 다양성
  • 광학적인 맨 위 디자인은 견본에 편리한 실험적인 접근을 제공합니다
  • 광양자 검출 시스템에 광학적인 도끼의 쉬운 줄맞춤

Last Update: 15. July 2013 04:45

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