EVO® HD 从卡尔蔡司的扫描电子显微镜

EVO® HD 从卡尔蔡司的扫描电子显微镜

EVO® HD 以实现不匹配低 kV 解决方法的新的电子来源技术为特色。 这做出 EVO® HD 首要的选择富挑战性的标本的,表面详细资料想象或射线敏感的材料的。 在更高的探测当前的解决方法改善提供改进的分析准确性。

此技术在常规 SEM (C-SEM) 竞技场展示未受挑战的性能结果,并且 EVO® HD 在想象解决方法当前巨大改善可达成在 C-SEM。 在解决方法的此步骤更改, EVO® HD 现在提前 在常规 SEMs 以前被限制的那些应用的知识:

  • 纳诺材料
  • 破裂机械工
  • 地质应用
  • 微生物学

Last Update: 15. August 2012 06:07

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