EVO® HD 從卡爾蔡司的掃描電子顯微鏡

EVO® HD 從卡爾蔡司的掃描電子顯微鏡

EVO® HD 以實現不匹配低 kV 解決方法的新的電子來源技術為特色。 這做出 EVO® HD 首要的選擇富挑戰性的標本的,表面詳細資料想像或射線敏感的材料的。 在更高的探測當前的解決方法改善提供改進的分析準確性。

此技術在常規 SEM (C-SEM) 競技場展示未受挑戰的性能結果,并且 EVO® HD 在想像解決方法當前巨大改善可達成在 C-SEM。 在解決方法的此步驟更改, EVO® HD 現在提前 在常規 SEMs 以前被限制的那些應用的知識:

  • 納諾材料
  • 破裂機械工
  • 地質應用
  • 微生物學

Last Update: 15. August 2012 06:07

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