企業のための取付け可能な AFM
NaniteAFM の走査ヘッドの並ぶものがなく小さい足跡は自動化された産業環境にそれに統合のための理想的な原子力の顕微鏡をします。 1 ナノメーターの下の解像度によって、 NaniteAFM は最も小さい表面の構造を検出し、視覚化することができます。 統合の可能性はの簡単な処理および多数全新しいレベルに製品解析を持って来ます。 コーティングを意図されていた構造か不規則性があるように同様に確認するか、または単独で地形で目に見えない機能を検出するのに追加 AFM の測定のモードを使用して下さい。 その使い易さおよび再現性は NaniteAFM に精密工学、生産プロセスの最適化、または半導体の製造のための完全な品質管理のツールを - 少数を指名するためにちょうど作ります。
主要な製品の機能:
- 取付け可能
- コンパクト
- 強い
- 高リゾリューションのデジタルカメラ
(3.1 Mpixel カラー平面図、
1.3 Mpixel のモノクロ側面図、
同時上および側面図)