行业的可登上的 AFM
NaniteAFM 扫瞄头的空前的小的脚印做它综合化的理想的基本强制显微镜成自动化的产业环境。 一个解决方法在一毫微米以下， NaniteAFM 能够检测和形象化甚而最小的表面结构。 简单处理和一许多综合化可能性给一个全部的新的级别带来您的产品分析。 检查涂层打算的结构或不规则性或者使用另外的 AFM 评定模式检测功能不可视在单独地势方面。 其易用和增殖率做 NaniteAFM 为精确工程、生产过程优化或者半导体制造的理想的质量管理工具 - 命名一些。
主要产品功能：
- 可登上
- 协定
- 稳健
- 高分辨率数字照相机
(3.1 Mpixel 颜色顶视图，
1.3 Mpixel 单色侧视图，
同时顶层和侧视图)