行業的可登上的 AFM
NaniteAFM 掃瞄頭的空前的小的腳印做它綜合化的理想的基本強制顯微鏡成自動化的產業環境。 一個解決方法在一毫微米以下， NaniteAFM 能够檢測和形象化甚而最小的表面結構。 簡單處理和一許多綜合化可能性給一個全部的新的級別帶來您的產品分析。 檢查塗層打算的結構或不規則性或者使用另外的 AFM 評定模式檢測功能不可視在單獨地勢方面。 其易用和增殖率做 NaniteAFM 為精確工程、生產過程優化或者半導體製造的理想的質量管理工具 - 命名一些。
主要產品功能：
- 可登上
- 協定
- 穩健
- 高分辨率數字照相機
(3.1 Mpixel 顏色頂視圖，
1.3 Mpixel 單色側視圖，
同時頂層和側視圖)