Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

NANO Indenter® XP van OPPERVLAKTE Systems+Technology Gmbh

NANO Indenter systemen van XP verstrekken een snelle en betrouwbare manier om mechanische gegevens te verwerven over de submicronschaal. Opnemend de recentste technologieën voor nanoindentation het testen, zijn NANO Indenter systemen van XP volledige proefsystemen die een robuust ontwerp kenmerken om het systeemleven, de krachtigste software van de industrie, de betere elektronika, en een ruimtebesparend ladingsframe uit te breiden. Door 23 bit elektronika en zeer hoge gegeven-bemonsterende tarieven, produceren NANO Indenter systemen van XP de nauwkeurigste gegevens van om het even welke van instrumenten voorzien nanoindentationsystemen over de markt. Elk geregistreerde gegevenspunt is een gemiddelde van 1000 afzonderlijke metingen.

NANO Indenter systemen van XP worden en eenvoudig software-gecontroleerd te gebruiken. De Gebruikers moeten slechts twee besluiten nemen: waar te om de inkepingen te zetten en welke experimenten bij die posities uit te voeren. Bepaal Eenvoudig de maximumlading of de diepte voor de inkeping voor routinehardheid en modulusmetingen, en het systeem zal ervoor zorgen dat de tests verenigbaar, aangewezen, en nauwkeurig zijn. Wanneer het toepassen van de gepatenteerde Ononderbroken techniek van de Meting (CSM) van de Stijfheid, registreert het systeem stijfheidsgegevens samen met lading en verplaatsingsgegevens die dynamisch, hardheid en de modulus van Jongelui toelaten om op elk gegevenspunt worden berekend dat tijdens het inkepingsexperiment wordt verworven.

NANO Indenter systemen van XP kunnen ook met een facultatief systeem voor zijkrachtmeting worden gepast. Deze optie meet de wrijvingskracht die op het diamantuiteinde tijdens een krastest wordt uitgeoefend. Het laat ook dat een NANO Indenter systeem van XP toe wordt gebruikt als profilometer om de topografie van een oppervlakte te onderzoeken before and after het testen.

Last Update: 24. September 2013 11:31

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment