超アントン Paar Nanoindentation (UNHT)

アントン Paar は nano 範囲に高温/高真空オプションと使用できる超低い熱ドリフトが付いている高リゾリューションの nanoindenter を - 今提供します。 ISO 14577 テスト方法ごとに使用されたとき超 Nano 硬度のテスターは市場の他のどの器械の最も正確なデータも測定できます。

nano 刻み目の技術は深さ感知の刻み目として (DSI)浸透深さが刻み目テストの間にロードの機能として絶えず監視されるので、識別されます。 この技術は主として nanoscale のレベル、特に硬度および弾性率で材料の機械特性を評価するために練習されました。 従って深さ (nm) および力 (£gN) の範囲を与えられる、測定された浸透深さの高精度のおよび加えられた力一定時間にわたりですこの方法のための不可欠なもの含みました。 データの正確さそして精密はあらゆる取り付けられた nanoindenter の使用できる最も低い熱ドリフトを持っていることによって保証されます。

機能

  • 実行中の上の参照 (特許を取られたデザイン)

    参照は取り外し可能で、異なった形 (球、ピン、等) である場合もあります。 参照に自身の piezo アクチュエーターおよびロードセンサーがあり、サンプルの非常に小さい制御された (サーボループ) ロードを加えます。

  • 熱ドリフトは放します

    ヘッドは ZeroDur® ガラスから組み立てられ、電子工学システムに≈ 1ppm/°C のドリフトのレートがあります

  • 最も高いロードフレームの剛さ

    材料 (ZeroDur) の大理石の基礎プラットホーム、選択および特許を取られた実行中の上の参照のおかげで。

  • 2 台の独立した深さおよびロードセンサー

    本当の深さおよび負荷制御のモードのための超高リゾリューションの容量性センサー。

  • 超高リゾリューションおよび非常に低雑音の床

    深さの解像度: 0.001 nm の騒音の床の≈ 0.1nm
    力の解像度: 0.01 のμN、騒音の床の≈ 0.5µN

  • 完全な定位置同期

    Nanoindentation の超テスターは良質の光学ビデオ顕微鏡や任意選択原子力の顕微鏡によって完全に 「定位置に」同期されます (AFM)。 超 Nanoindentation のテスターヘッド、光学顕微鏡および AFM の目的の組合せはナノメーターのスケールで大きい柔軟性および使い易さ、また正確な三次元イメージ投射を提供します。

  • ISO 14577 および ASTM E2546 に対応

    CSM の器械は ISO および ASTM の標準に完全に合致する測定および器械を作り出します

オプション

  • 200°C または 400°C (真空だけの下の 400°C) までの高温段階
  • 真空または環境制御機構
  • 音響の弱まる機構
  • 原子力の顕微鏡
  • 高リゾリューションのサンプル段階 (0.25um 正確さ)
  • 高リゾリューションのカメラ

Last Update: 3. October 2014 13:10

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