安东超 Paar Nanoindentation (UNHT)

安东 Paar 提供纳诺范围与极端底的热量偏差的高分辨率 nanoindenter - 现在可用对高温/高真空选项。 当使用每 ISO 14577 测试方法超纳诺坚硬测试人员能评定所有其他仪器最准确的数据在这个市场上的。

在凹进测试期间,因为有效肤深 (DSI)不断地被监控作为负荷功能纳诺凹进技术被识别作为深度感觉的凹进。 此技术主要被实践评估材料机械性能在特别是 nanoscale 级别,坚硬和弹性模数。 假使深度 (nm) 和强制 (£gN) 的范围因此介入,高精确度被评定的有效肤深和被应用的强制随着时间的推移是此方法的不可缺少。 数据的准确性和精确度由有保证这个最低的热量偏差可用所有被导航的 nanoindenter。

功能

  • 有效顶层引用 (给予专利的设计)

    参考是可移动的,并且可以是不同的形状 (球、针等等)。 参考有其自己的压力致动器和负荷传感器并且应用在这个范例的非常小的受控 (伺服回路) 负荷。

  • 热量偏差释放

    题头被修建在 ZeroDur® 玻璃外面,并且电子系统有≈ 1ppm/°C 的一种偏差费率

  • 最高的负荷框架僵硬

    由于大理石基本平台,材料选择 (ZeroDur) 和给予专利的有效顶部引用。

  • 二个独立深度和负荷传感器

    超真的深度和负荷调节模式的高分辨率电容传感器。

  • 超高分辨率和非常低噪声楼层

    深度解决方法: 0.001 毫微米,噪声楼层≈ 0.1nm
    强制解决方法: 0.01 μN,噪声楼层≈ 0.5µN

  • 理想的位置的同步

    超 Nanoindentation 测试人员完全 “位置与一个优质光学视频显微镜和一个选项基本强制显微镜同步” (AFM)。 超 Nanoindentation 测试人员题头、光学显微镜和 AFM 目的组合提供极大的灵活性和易用,以及准确三维想象在毫微米缩放比例。

  • 兼容对 ISO 14577 和 ASTM E2546

    CSM 仪器引起完全依照 ISO 和 ASTM 标准的仪器和评定

选项

  • 至 200°C 或 400°C (在仅真空下的 400°C 的高温阶段)
  • 真空或环境控制封入物
  • 音响阻止的封入物
  • 基本强制显微镜
  • 高分辨率范例阶段 (0.25um 准确性)
  • 高分辨率照相机

Last Update: 9. December 2014 20:35

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