安東超 Paar Nanoindentation (UNHT)

安東超 Paar Nanoindentation (UNHT)

安東 Paar 提供納諾範圍與極端底的熱量偏差的高分辨率 nanoindenter - 現在可用對高溫/高真空選項。 當使用每 ISO 14577 測試方法超納諾堅硬測試人員能評定所有其他儀器最準確的數據在這個市場上的。

在凹進測試期間,因為有效膚深 (DSI)不斷地被監控作為負荷功能納諾凹進技術被識別作為深度感覺的凹進。 此技術主要被實踐評估材料機械性能在特別是 nanoscale 級別,堅硬和彈性模數。 假使深度 (nm) 和強制 (£gN) 的範圍因此介入,高精確度被評定的有效膚深和被應用的強制隨著時間的推移是此方法的不可缺少。 數據的準確性和精確度由有保證這個最低的熱量偏差可用所有被導航的 nanoindenter。

功能

  • 有效頂層引用 (給予專利的設計)

    參考是可移動的,并且可以是不同的形狀 (球、針等等)。 參考有其自己的壓力致動器和負荷傳感器并且應用在這個範例的非常小的受控 (伺服回路) 負荷。

  • 熱量偏差釋放

    題頭被修建在 ZeroDur® 玻璃外面,并且電子系統有≈ 1ppm/°C 的一種偏差費率

  • 最高的負荷框架僵硬

    由於大理石基本平臺,材料選擇 (ZeroDur) 和給予專利的有效頂部引用。

  • 二個獨立深度和負荷傳感器

    超真的深度和負荷調節模式的高分辨率電容傳感器。

  • 超高分辨率和非常低噪聲樓層

    深度解決方法: 0.001 毫微米,噪聲樓層≈ 0.1nm
    強制解決方法: 0.01 μN,噪聲樓層≈ 0.5µN

  • 理想的位置的同步

    超 Nanoindentation 測試人員完全 「位置與一個優質光學視頻顯微鏡和一個選項基本強制顯微鏡同步」 (AFM)。 超 Nanoindentation 測試人員題頭、光學顯微鏡和 AFM 目的組合提供極大的靈活性和易用,以及準確三維想像在毫微米縮放比例。

  • 兼容對 ISO 14577 和 ASTM E2546

    CSM 儀器引起完全依照 ISO 和 ASTM 標準的儀器和評定

選項

  • 至 200°C 或 400°C (在仅真空下的 400°C 的高溫階段)
  • 真空或環境控制封入物
  • 音響阻止的封入物
  • 基本強制顯微鏡
  • 高分辨率範例階段 (0.25um 準確性)
  • 高分辨率照相機

Last Update: 23. December 2014 07:39

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