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Scanning Electron Microscope - Agilent 8500 FE-SEM

Der Agilent 8500 Field Emission Scanning Electron Microscope FE-SEM ist ein kompaktes System, das Forscher bietet eine Feldemission Rasterelektronenmikroskop, die einfach zu bedienen ist und erfordert keine speziellen Einrichtungen. Dieses innovative Agilent Technologies Lösung für Niederspannungs-Bildgebung, extrem hohe Oberfläche Kontrast und Auflösung in der Regel nur in viel größeren und teureren Feldemission Mikroskope gefunden wurde optimiert.

Über die Größe eines Laserdruckers, der 8500 FE-SEM bietet komfortable Plug-and-play Leistung. Keine speziellen Einrichtungen erforderlich sind, nur eine Steckdose. Der Roman wissenschaftlich-grade-System bietet verschiedene bildgebende Verfahren zur Verbesserung der Oberfläche Kontrast und ermöglicht nanoskaligen Eigenschaften auf eine Vielzahl von nanostrukturierten Materialien, wie Polymere, dünne Folien, Biomaterialien und anderen Energie-empfindliche Proben auf jedem Untergrund, sogar Glas beobachtet werden.

Der 8500 FE-SEM eliminiert Aufladung von nicht leitenden Proben und die Notwendigkeit einer Probe-Beschichtung, die Nano-Eigenschaften, sowie die Notwendigkeit, zu einem erhöhten Druck Operation, die Auflösung herabgesetzt wird, kann resort Maske kann. Stufenlos Bildgebung Spannung abstimmbaren 500 bis 2000 Volt als operative Parameter, anstatt ein Setup-Wahl. Darüber hinaus verwendet das System eine Vier-Segment Mikrokanalplatte Detektor, topographische Abbildung bietet neben zwei orthogonalen Richtungen an die Oberfläche Detail zu verbessern. Diese Technik hat sich gezeigt, klar zu lösen Sub-Nanometer-atomaren Stufen auf der Oberfläche von kristallinen Substanzen wie Polytyp 6H-SiC.

Key Features der 8500 FE-SEM gehören:

  • Miniature elektrostatische Elektronenstrahlsäule mit thermischen Feldemission Elektronenquelle
  • Compact FE-SEM-System Größe entspricht in etwa dem eines typischen Laserdrucker
  • Einfache Plug-and-Play-Installation benötigt nur Steckdose.
  • Stufenlos regelbare niedrige Spannung macht den Ladevorgang und die Notwendigkeit für Probe-Beschichtung
  • Programmierbare XYZ-Bühne ermöglicht dem Benutzer, genaue Koordinaten gesetzt, Scannen und Speichern von Informationen
  • Elektrostatische Linsen-Design stellt sicher, wiederholbare Leistung ohne ständige Neuabstimmung

Leistungsfähigkeit der 8500 FE-SEM sind wie folgt:

  • Auflösung und Imaging-gleich zu konventionellen FE-REM
  • Beachten Sie nanoskaligen Eigenschaften von nanostrukturierten Materialien auf jedem Untergrund, sogar auf Glas
  • Ideal für Polymere, dünne Folien, Biomaterialien und anderen Energie-empfindliche Proben
  • High-Signal-Rausch-Verhältnis und eine konsistente, langfristige Performance
  • Sekundäre und Backscatter-Elektronen-Erkennung helfen, eine Fülle von Daten für jede Probe eingestellt
  • Die Fähigkeit, zu speichern und zum beliebigen Betriebssystem-Setup sofort mit vernachlässigbarer Feineinstellung

Last Update: 8. October 2011 19:43

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