Microscopio Electrónico de Barrido - Agilent 8500 FE-SEM

El Agilent 8500 de emisión de campo electrónico de barrido Microscopio FE-SEM es un sistema compacto que ofrece a los investigadores una emisión de campo microscopio electrónico de barrido que es fácil de usar y no requiere instalaciones especiales. Esta innovadora solución de Agilent Technologies ha sido optimizado para baja tensión de imagen, el contraste superficial extremadamente alta, y la resolución normalmente sólo se encuentran en mucho mayor y los microscopios de campo más caros de las emisiones.

Aproximadamente del tamaño de una impresora láser, la FE-SEM 8500 cuenta con un práctico plug-and-play de rendimiento. No se requieren instalaciones especiales, sólo una toma de corriente. La novela de grado científico sistema ofrece varias técnicas de imagen para mejorar el contraste de superficie y que permiten su escala nanométrica que se observa en una amplia variedad de materiales nanoestructurados, incluyendo polímeros, películas delgadas, los biomateriales, y otras muestras de la energía y minúsculas en cualquier soporte, incluso de vidrio.

La FE-SEM 8500 elimina la carga de muestras no conductoras y la necesidad de revestimiento de muestra, que puede enmascarar a nanoescala, así como la necesidad de recurrir a la operación de aumento de la presión, que puede degradar la resolución. Tensión de imágenes se puede ajustar continuamente variable desde 500 hasta 2000 voltios como un parámetro de funcionamiento, en lugar de una opción de configuración. Además, el sistema utiliza un detector de cuatro segmentos de microcanal que proporciona imágenes topográficas a lo largo de dos direcciones ortogonales para mejorar los detalles de la superficie. Esta técnica ha sido demostrada para resolver claramente sub-nanométrica pasos atómica en la superficie de las sustancias cristalinas como Polytype 6H-SiC.

Las principales características de la FE-SEM 8500 incluyen:

  • Miniatura de electrones electrostática columna viga con fuente de electrones térmicas de emisión de campo
  • Compactas FE-SEM tamaño del sistema más o menos equivalente al de una impresora láser típica
  • Simple plug-and-play, sólo una toma de corriente AC necesarias.
  • Bajo voltaje continuamente variable elimina la carga y la necesidad de revestimiento de muestra
  • Programable XYZ etapa permite al usuario establecer coordenadas precisas, escanear y guardar la información
  • Diseño de la lente electrostática que garantiza un rendimiento repetible sin el temor constante de re-ajuste

Capacidad de rendimiento de la 8500 FE-SEM son las siguientes::

  • Resolución e igual a la que tienen los FE-SEM de imágenes
  • Observar las características a nanoescala en los materiales nanoestructurados en cualquier soporte, incluso el vidrio
  • Ideal para los polímeros, películas delgadas, los biomateriales, y otras muestras de la energía y minúsculas
  • Una alta relación señal-ruido y un rendimiento consistente y de larga duración
  • Secundaria y de electrones de retrodispersión ayudar a la detección de proporcionar un rico conjunto de datos para cada muestra
  • Capacidad de almacenar y volver a cualquier configuración de operar de inmediato con ajuste fino insignificante

Last Update: 8. October 2011 19:43

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