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Microscope électronique à balayage - Agilent 8500 FE-SEM

L'émission de champ Agilent 8500 microscope électronique à balayage FE-SEM est un système compact qui offre aux chercheurs une émission de champ microscope électronique à balayage qui est facile à utiliser et ne nécessite pas d'installations spéciales. Cette approche novatrice Agilent Technologies solution a été optimisée pour l'imagerie à basse tension, le contraste de surface extrêmement élevée, et la résolution on trouve généralement que dans beaucoup plus grand et plus cher microscopes à émission de champ.

A propos de la taille d'une imprimante laser, le FE-SEM 8500 fournit commodes plug-and-play de performance. Pas d'installations dédiées sont nécessaires, seulement une prise de courant. Le roman scientifique de qualité du système offre plusieurs techniques d'imagerie pour un contraste de surface et en permettant l'amélioration des caractéristiques nanométriques d'être observé sur une grande variété de matériaux nanostructurés, y compris les polymères, films minces, de biomatériaux et d'autres énergies échantillons sensibles sur n'importe quel substrat, même le verre.

Le FE-SEM 8500 élimine la charge d'échantillons non-conducteurs et la nécessité pour le revêtement de l'échantillon, qui peuvent masquer des motifs nanométriques, ainsi que la nécessité de recourir à l'opération une pression accrue, ce qui peut dégrader la résolution. Tension d'imagerie variable en continu est accordable de 500 à 2000 volts, comme un paramètre opérationnel, plutôt que d'un choix de configuration. Par ailleurs, le système utilise un détecteur à plaque à microcanaux quatre segments qui fournit l'imagerie topographique selon deux directions orthogonales à améliorer les détails de surface. Cette technique a été démontré clairement à résoudre sub-nanométrique marches atomiques sur la surface des substances cristallines telles que polytype 6H-SiC.

Principales caractéristiques de l'FE-SEM 8500 incluent:

  • Miniature colonne électrostatiques faisceau d'électrons avec la source d'émission de terrain électrons thermiques
  • Taille compacte du système FE-SEM à peu près équivalente à celle d'une imprimante laser typique
  • Simple plug-and-play, seule prise de courant nécessaire.
  • Variable en continu à basse tension élimine la charge et la nécessité pour le revêtement de l'échantillon
  • Programmable stade de XYZ permet à l'utilisateur de définir les coordonnées précises, numériser et enregistrer les informations
  • Conception de lentille électrostatique assure une performance reproductibles sans constante re-tuning

Performances de l'FE-SEM 8500 sont les suivants:

  • Résolution et égal à celui des conventionnels FE-SEM imagerie
  • Observez les caractéristiques nanométriques sur des matériaux nanostructurés sur n'importe quel support, même le verre
  • Idéal pour les polymères, films minces, de biomatériaux et d'autres énergies échantillons sensibles
  • Rapport signal sur bruit et cohérente, des performances durables
  • Secondaire et aider à la détection d'électrons rétrodiffusés fournissent un ensemble riche de données pour chaque échantillon
  • Possibilité de stocker et revenir à n'importe quelle configuration d'exploitation immédiatement avec réglage fin négligeables

Last Update: 8. October 2011 19:44

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