La 8500 Agilent Field Emission Scanning Electron Microscope FE-SEM è un sistema compatto che offre ai ricercatori un emissione di campo microscopio elettronico a scansione che è facile da usare e non richiede attrezzature particolari. Questa innovativa soluzione Agilent Technologies è stato ottimizzato per immagini a bassa tensione, contrasto superficie estremamente alto, e la risoluzione di solito si trovano solo in molto più grandi e più costosi microscopi emissione di campo.
Circa le dimensioni di una stampante laser, la FE-SEM 8500 fornisce un comodo plug-and-play. Nessun strutture dedicate sono necessari, solo una presa di alimentazione CA. Il romanzo scientifico-grade sistema offre diverse tecniche di imaging per migliorare il contrasto superficie e che consentono a nanoscala che devono essere osservati su una vasta gamma di materiali nanostrutturati, compresi i polimeri, film sottili, biomateriali, e delle altre energie sensibili campioni su qualsiasi supporto, anche di vetro.
La 8500 FE-SEM elimina la carica di campioni non conduttori e la necessità di rivestimento campione che può mascherare le caratteristiche nanoscala, così come la necessità di ricorrere al funzionamento aumento della pressione, che può degradare la risoluzione. Tensione di imaging a variazione continua è sintonizzabile 500-2000 volt come parametro operativo, piuttosto che una scelta di impostazione. Inoltre, il sistema utilizza un sensore a quattro segmenti placca a microcanali che fornisce immagini topografiche lungo due direzioni ortogonali per aumentare dettagli della superficie. Questa tecnica è stata dimostrata per risolvere chiaramente sub-nanometrica passi atomica sulla superficie delle sostanze cristalline come politipo 6H-SiC.
Caratteristiche principali della la 8500 FE-SEM includono:
- Miniatura elettrostatica del fascio di elettroni con colonna termica sorgente di elettroni emissione di campo
- Compatta FE-SEM dimensioni del sistema più o meno equivalente a quello di una stampante laser tipico
- Semplice plug-and-play, ma solo presa di corrente CA necessario.
- A variazione continua a bassa tensione elimina la carica e la necessità per il rivestimento del campione
- Programmabile fase XYZ permette all'utente di impostare le coordinate precise, scansione e salvare informazioni
- Lente elettrostatica assicura prestazioni ripetibili senza costante ri-regolazione
Capacità di performance del 8500 la FE-SEM sono i seguenti::
- Risoluzione e uguale a quella del convenzionale FE-SEM di imaging
- Osservare le caratteristiche nanoscala su materiali nanostrutturati su qualsiasi supporto, anche sul vetro
- Ideale per polimeri, film sottili, biomateriali, e delle altre energie sensibili campioni
- Elevato rapporto segnale-rumore rapporto e coerente, prestazioni di lunga durata
- Secondaria di elettroni e aiutare backscatter rilevamento forniscono un ricco set di dati per ogni campione
- Possibilità di memorizzare e tornare a qualsiasi sistema operativo immediatamente con trascurabile regolazione fine