Microscopio Elettronico A Scansione - Keysight 8500 FE-SEM

Il Microscopio Elettronico A Scansione Dell'Emissione di Campo di Keysight 8500 FE-SEM è un sistema compatto che offre a ricercatori un microscopio elettronico a scansione dell'emissione di campo che è di facile impiego e non richiede gli impianti speciali. Questa soluzione innovatrice delle Tecnologie di Keysight è stata ottimizzata per la rappresentazione a bassa tensione, contrasto di superficie estremamente alto e la risoluzione ha trovato tipicamente soltanto in microscopi di emissione di campo molto più grandi e più costosi.

Circa la dimensione di una stampante a laser, i 8500 FE-SEM forniscono la prestazione pronta per l'uso conveniente. Nessun impianto dedicato è richiesto, soltanto uno sbocco di corrente alternata. Il sistema novello del scientifico-grado offre parecchie tecniche di rappresentazione per il miglioramento del contrasto di superficie e permettere che le funzionalità del nanoscale siano osservate su un'ampia varietà di materiali nanostructured, compreso i polimeri, le pellicole sottili, i biomateriali ed altri a campioni energia sensibili su tutto il substrato, anche di vetro.

I 8500 FE-SEM eliminano il carico dei campioni nonconductive e l'esigenza del rivestimento del campione, che può mascherare le funzionalità del nanoscale come pure la necessità di ricorrere all'operazione aumentata di pressione, che può degradare la risoluzione. La tensione Continuamente variabile della rappresentazione è musicale da 500 a 2000 volt come parametro operativo, piuttosto che una scelta di impostazione. Ancora, il sistema usa un rivelatore della zolla di microchannel di quattro-segmento che fornisce la rappresentazione topografica lungo le due direzioni ortogonali per migliorare il dettaglio di superficie. Questa tecnica è stata dimostrata per risolvere chiaramente i punti atomici di sotto-nanometro sulla superficie delle sostanze cristalline quale polytype 6H-SiC.

Le caratteristiche fondamentali Dei 8500 FE-SEM includono:

  • Colonna elettrostatica Miniatura del fascio di elettroni con la sorgente termica dell'elettrone dell'emissione di campo
  • Dimensione di sistema Compatta di FE-SEM approssimativamente equivalente a quella di una stampante a laser tipica
  • Impianto pronto per l'uso Semplice, soltanto sbocco di corrente alternata Stato necessario.
  • La bassa tensione Continuamente variabile elimina l'addebito ed il bisogno il rivestimento del campione
  • La fase Programmabile di X-Y-Z permette che l'utente fissi le coordinate precise, scandisca e salvi l'Info
  • La progettazione Elettrostatica della lente assicura la prestazione ripetibile senza la ri-sintonizzazione costante

Le capacità di Prestazione dei 8500 FE-SEM sono come segue::

  • Risoluzione e rappresentazione uguali a quella di Tecnico di assistenza-SEMs convenzionale
  • Osservi le funzionalità del nanoscale sui materiali nanostructured su tutto il substrato, anche di vetro
  • Ideale per i polimeri, le pellicole sottili, i biomateriali ed altri a campioni energia sensibili
  • Alti rapporti segnali-rumore e prestazione costante e duratura
  • La guida di backscatter e Secondaria dell'elettrone di rilevazione fornisce un insieme di dati ricco per ogni campione
  • Capacità di memorizzare immediatamente e ritornare a qualsiasi impostazione di funzionamento con aggiustamento di precisione trascurabile

Last Update: 15. December 2014 13:29

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