Agilent 8500 场致发射扫描电子显微镜 FE-SEM 是提供研究员一个场致发射扫描电子显微镜是易用的，并且不要求特别设施的一个紧凑系统。 此创新 Agilent 技术解决方法为低压想象，非常高表面对比被优选了，并且解决方法在更大和更加消耗大的场致发射显微镜仅典型地查找了。
大约激光打印机的范围， 8500 个 FE-SEM 提供方便即插即用性能。 没有需要专用的设施，仅交流电能出口。 新颖的科学级别系统在各种各样的 nanostructured 材料提供提高表面对比和允许 nanoscale 功能的几成象技术被观察，包括聚合物、薄膜、生物材料和其他能源敏感的范例在所有基体，甚而玻璃。
8500 个 FE-SEM 消灭充电绝缘的范例和对范例涂层的需要，可能屏蔽 nanoscale 功能，以及需要采取增加的压运算，可能降低解决方法。 不断地可变的想象电压从 500 是可调的到 2000 伏特作为一个可操作的参数，而不是设置选择。 此外，这个系统使用提供沿二个正交方向的地形学想象提高表面详细资料的一台四细分市场微通道板探测器。 此技术被展示明显地解决在水晶物质表面的子毫微米基本步骤例如 polytype 6H Sic。
8500 个 FE-SEM 的关键功能包括：
- 与热量场致发射电子来源的微型静电电子束列
- 紧凑 FE-SEM 系统大小大致相同对那一台典型的激光打印机
- 简单的即插即用安装，需要的仅交流电能出口。
- 不断地可变的低压消灭收费和需要对范例涂层
- 可编程序的 X-Y-Z 阶段允许用户设置准确的坐标，浏览和保存信息
- 静电透镜设计保证可重复的性能，无需恒定再调整
8500 个 FE-SEM 的性能是如下： ：
- 解决方法和想象等于与那常规 FESEMs
- 观察在 nanostructured 材料的 nanoscale 功能在所有基体，甚而玻璃
- 聚合物、薄膜、生物材料和其他能源敏感的范例的理想
- 高信号噪音比和一致，持久性能
- 附属和背景散射的电子检测帮助为每个范例提供富有的数据集
- 能力立即存储和返回到任何操作的设置与微不足道的精密调整