掃描電子顯微鏡 - Keysight 8500 个 FE-SEM

Keysight 8500 場致發射掃描電子顯微鏡 FE-SEM 是提供研究員一個場致發射掃描電子顯微鏡是易用的,并且不要求特別設施的一個緊湊系統。 此創新 Keysight 技術解決方法為低壓想像,非常高表面對比被優選了,并且解決方法在更大和更加消耗大的場致發射顯微鏡仅典型地查找了。

大約激光打印機的範圍, 8500 个 FE-SEM 提供方便即插即用性能。 沒有需要專用的設施,仅交流電能出口。 新穎的科學級別系統在各種各樣的 nanostructured 材料提供提高表面對比和允許 nanoscale 功能的幾成像技術被觀察,包括聚合物、薄膜、生物材料和其他能源敏感的範例在所有基體,甚而玻璃。

8500 个 FE-SEM 消滅充電绝緣的範例和對範例塗層的需要,可能屏蔽 nanoscale 功能,以及需要採取增加的壓運算,可能降低解決方法。 不斷地可變的想像電壓從 500 是可調的到 2000 伏特作為一個可操作的參數,而不是設置選擇。 此外,這個系統使用提供沿二個正交方向的地形學想像提高表面詳細資料的一臺四細分市場微通道板探測器。 此技術被展示明顯地解決在水晶物質表面的子毫微米基本步驟例如 polytype 6H Sic。

8500 个 FE-SEM 的關鍵功能包括:

  • 與熱量場致發射電子來源的微型靜電電子束列
  • 緊湊 FE-SEM 系統大小大致相同對那一臺典型的激光打印機
  • 簡單的即插即用安裝,需要的仅交流電能出口。
  • 不斷地可變的低壓消滅收費和需要對範例塗層
  • 可編程序的 X-Y-Z 階段允許用戶設置準確的坐標,瀏覽和保存信息
  • 靜電透鏡設計保證可重複的性能,无需恆定再調整

8500 个 FE-SEM 的性能是如下: :

  • 解決方法和想像等於與那常規 FESEMs
  • 觀察在 nanostructured 材料的 nanoscale 功能在所有基體,甚而玻璃
  • 聚合物、薄膜、生物材料和其他能源敏感的範例的理想
  • 高信號噪音比和一致,持久性能
  • 附屬和背景散射的電子檢測幫助為每個範例提供富有的數據集
  • 能力立即存儲和返回到任何操作的設置與微不足道的精密調整

Last Update: 15. December 2014 13:28

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