安捷倫8500場發射掃描電子顯微鏡FE - SEM是一個緊湊的系統，研究人員提供一個場發射掃描電子顯微鏡，易於使用，不需要特殊的設施。這一創新的安捷倫科技公司的解決方案進行了優化低電壓成像，極高的表面對比，通常只有在更大和更昂貴的場發射顯微鏡的分辨率。
關於激光打印機的大小，8500 FE - SEM提供便利的插件和性能的發揮。沒有專門的設施是必需的，只有一個交流電源插座。新穎的科學級系統提供多種成像技術，提高表面的對比，並允許在多種納米材料，包括聚合物，薄膜，生物材料，並在任何基材上，甚至玻璃等能源敏感的樣品觀察納米功能。
8500 FE - SEM消除不導電的樣品和樣品的塗層，可以屏蔽的納米級功能，以及需要訴諸壓力增加的操作，它可以降低的決議的必要性充電。無級變速成像從 500至2000伏的運行參數，而不是一個設置選擇的電壓是可調的。此外，該系統採用了四個段的微通道板探測器，沿兩個正交方向提供地形成像技術，以提高表面細節。這種技術已被證明清楚地解決亞納米級的結晶物質，如多種類型的6H - SiC表面原子台階。
的主要特點8500 FE - SEM包括：
- 微型靜電的電子，熱場發射電子源樑柱
- 緊湊型FE - SEM系統的規模大致相當於一個典型的激光打印機
- 簡單的安裝插件和播放，只有交流電源插座的需要。
- 連續可變低電壓消除充電和樣品塗層的需要
- 可編程 XYZ階段允許用戶設置精確坐標，掃描，並保存信息
- 靜電透鏡設計，確保不重複的性能不斷的重新調整
的性能8500 FE - SEM如下：
- 分辨率和成像等於傳統的FE -中小企業
- 觀察任何基材的關於納米材料的納米級功能，甚至玻璃
- 為聚合物，薄膜，生物材料，和其他能源敏感的樣品的理想選擇
- 高信號信噪比和一貫的，長期持久的性能
- 中學和背散射電子檢測幫助提供了豐富的數據為每個樣品設置
- 能夠存儲並返回到任何操作系統安裝立即可以忽略不計的微調