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掃描電子顯微鏡 - 安捷倫 8500 FE - SEM

安捷倫8500場發射掃描電子顯微鏡FE - SEM是一個緊湊的系統,研究人員提供一個場發射掃描電子顯微鏡,易於使用,不需要特殊的設施。這一創新的安捷倫科技公司的解決方案進行了優化低電壓成像,極高的表面對比,通常只有在更大和更昂貴的場發射顯微鏡的分辨率。

關於激光打印機的大小,8500 FE - SEM提供便利的插件和性能的發揮。沒有專門的設施是必需的,只有一個交流電源插座。新穎的科學級系統提供多種成像技術,提高表面的對比,並允許在多種納米材料,包括聚合物,薄膜,生物材料,並在任何基材上,甚至玻璃等能源敏感的樣品觀察納米功能。

8500 FE - SEM消除不導電的樣品和樣品的塗層,可以屏蔽的納米級功能,以及需要訴諸壓力增加的操作,它可以降低的決議的必要性充電。無級變速成像從 500至2000伏的運行參數,而不是一個設置選擇的電壓是可調的。此外,該系統採用了四個段的微通道板探測器,沿兩個正交方向提供地形成像技術,以提高表面細節。這種技術已被證明清楚地解決亞納米級的結晶物質,如多種類型的6H - SiC表面原子台階。

的主要特點8500 FE - SEM包括:

  • 微型靜電的電子,熱場發射電子源樑柱
  • 緊湊型FE - SEM系統的規模大致相當於一個典型的激光打印機
  • 簡單的安裝插件和播放,只有交流電源插座的需要。
  • 連續可變低電壓消除充電和樣品塗層的需要
  • 可編程 XYZ階段允許用戶設置精確坐標,掃描,並保存信息
  • 靜電透鏡設計,確保不重複的性能不斷的重新調整

的性能8500 FE - SEM如下:

  • 分辨率和成像等於傳統的FE -中小企業
  • 觀察任何基材的關於納米材料的納米級功能,甚至玻璃
  • 為聚合物,薄膜,生物材料,和其他能源敏感的樣品的理想選擇
  • 高信號信噪比和一貫的,長期持久的性能
  • 中學和背散射電子檢測幫助提供了豐富的數據為每個樣品設置
  • 能夠存儲並返回到任何操作系統安裝立即可以忽略不計的微調

Last Update: 5. October 2011 15:00

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