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Epsilon 3 - Spettrometro Dispersivo di Fluorescenza a Raggi X di Energia (EDXRF) di Benchtop da PANalytical

Lo strumento dell'Epsilon 3 è uno spettrometro dispersivo di fluorescenza a raggi X di energia (EDXRF) del benchtop, alimentato tramite gli ultimi avanzamenti nell'eccitazione e nella tecnologia di rilevazione. L'Epsilon 3 è strumento analitico accessibile e altamente flessibile adatto per una vasta gamma di applicazioni che caratterizza un nuovo tubo ceramico di rendimento elevato ed il più recente nella tecnologia del rivelatore della deriva del silicio.

Ready per qualunque tipo del campione
L'Epsilon 3 può trattare una grande varietà di tipi del campione, compreso le polveri stampate e sciolte dei solidi, liquidi e filtri, pesanti da alcuni grammi ai più grandi campioni globali. L'Epsilon 3 esegue l'analisi quantitativa non distruttiva degli elementi da sodio ad uranio, nelle concentrazioni da 100% giù ai livelli di PPM.

L'Epsilon 3 è un redditizio e un'alternativa fattibile per un'ampia varietà di industrie e di applicazioni, includente:

  • produzione del cemento
  • estraendo, arricchimento minerale
  • petrolio
  • polimeri ed industrie relative
  • vetro
  • dialettica
  • prodotti farmaceutici, prodotti di sanità
  • ambientale
  • alimento, cosmetici

L'Epsilon 3 risponde ai requisiti delle norme internazionali pertinenti quali ASTM, l'ISO ed il BACCANO. È supportata tramite la rete mondiale della società delle vendite e degli specialisti di servizio.

Vantaggi Chiave
I vantaggi Chiave dei 3 Epsilon sono:

  • Spettrometro Ad Alto Rendimento del benchtop XRF
  • Sicurezza dei Raggi X assicurata
  • Alta sensibilità con tecnologia astuta di rilevazione e di eccitazione
  • Affidabile e semplice funzionare
  • Prestazione analitica Eccezionale (Na - U)
  • Trattamento di Dati con trattamento avanzato di spettro e gli algoritmi avanzati di quantificazione di correzione
  • Migliorato dai moduli standardless, di presa delle impronte digitali e di conformità normativa
  • Rete di servizio Mondiale

Last Update: 11. January 2012 04:42

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