电子 microscopies 是驱动力在 nanotechnological 革命我们今天寻找自己。 以及扫描挖洞显微学的基本强制显微学是另一启用的技术在生长领域的纳米技术。 这两个世界，虽然高度免费，一般是单独的和分开。 第一次，在其驱动器的 Nanonics 有限公司想象集成微观解决方法的现在能对充分地和显然地集成这两个世界。
- 同时和独立 SPM/SEM 想象
- 与任何 SEM 的透明与一个充分大的范例房间的综合化或小谎
- 简正力量感觉： 联络，没有接触和断断续续的联系模式在 SPM
- 高分辨率阴极发光评定
SEM 和 AFM 免费技术
扫描电子显微镜有困难得到关于各种各样的范例的信息。 一种这样情形是一个沟槽的事例在 SEM 不可能查看底层或沟槽结构的侧壁的半导体片的。 使用 MultiView 400™的唯一 AFM 功能运算符 SEM 或小谎设备在线路能询问，问题高长宽比结构 (即侧面墙角度和表面结构这些在各种各样的重要设备的侧壁有 vias 和其他结构的。