電子 microscopies 是驅動力在 nanotechnological 革命我們今天尋找自己。 以及掃描挖洞顯微學的基本強制顯微學是另一啟用的技術在生長領域的納米技術。 這兩個世界，雖然高度免費，一般是單獨的和分開。 第一次，在其驅動器的 Nanonics 有限公司想像集成微觀解決方法的現在能對充分地和顯然地集成這兩個世界。
- 同時和獨立 SPM/SEM 想像
- 與任何 SEM 的透明與一個充分大的範例房間的綜合化或小謊
- 簡正力量感覺： 聯絡，沒有接觸和斷斷續續的聯繫模式在 SPM
- 高分辨率陰極發光評定
SEM 和 AFM 免費技術
掃描電子顯微鏡有困難得到關於各種各樣的範例的信息。 一種這樣情形是一個溝槽的事例在 SEM 不可能查看底層或溝槽結構的側壁的半導體片的。 使用 MultiView 400™的唯一 AFM 功能運算符 SEM 或小謊設備在線路能詢問，問題高長寬比結構 (即側面牆角度和表面結構這些在各種各樣的重要設備的側壁有 vias 和其他結構的。