El Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición puede medir el espesor del film y el Índice de refracción a través de las muestras tan grandes como 300x300m m.
Características
Las Características del Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición incluyen
- Fácil fijar y operatorio con la Ventana basaron software
- Diversos tipos de substrato de la geometría hasta 300x300m m o 300m m en diámetro
- Diversos tipos de correlacionar el modelo tal como coordenadas lineales, polares, cuadrados o arbitrarios
- La óptica Avanzada y diseño rugoso para el mejor funcionamiento de sistema
- Ponga En Orden el sistema basado del detector para asegurar la medición rápida
- Correlacione el espesor del film y el Índice De Refracción hasta 5 capas
- El Sistema viene con la base de datos y la biblioteca ópticas completas de los constantes
- Incluya las recetas de uso general
- El Software Avanzado de TFProbe permite que el utilizador utilice el vector de NK, la dispersión o la aproximación efectiva de los media (EMA) para cada película individual.
- Mejorable al sistema de correspondencia de MSP (Microspectrophotometer) con el reconocimiento de patrones, o a la Mancha Grande para correlacionar sobre la estructura modelada u ofrecida (con el Modelo de Zonerage)
- Aplique a muchos diverso tipo de substratos con diverso espesor
- gráficos el 2.o y del rendimiento 3D e interfaz convivial de la gestión de datos con resultados estadísticos
Aplicaciones
El Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición se adapta para utilizar en:
- Fabricación del Semiconductor (BANDA, Óxido, Nitruro.)
- Pantalla de cristal líquido (ITO, BANDA, separación de la Célula .....)
- Películas y materiales Biológicos
- Capas Ópticas, TiO2, SiO2, TaO25 .....
- Pastas del Semiconductor
- Películas Funcionales en MEMS/MOEMS
- Si Amorfo, nano y cristalino