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SE200BA Ellipsometer Espectroscópico para la Medición del Espesor Del Film De las Tecnologías de Angstom Sun

El Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición puede medir el espesor del film y el Índice de refracción a través de las muestras tan grandes como 300x300m m.

Características

Las Características del Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición incluyen

  • Fácil fijar y operatorio con la Ventana basaron software
  • Diversos tipos de substrato de la geometría hasta 300x300m m o 300m m en diámetro
  • Diversos tipos de correlacionar el modelo tal como coordenadas lineales, polares, cuadrados o arbitrarios
  • La óptica Avanzada y diseño rugoso para el mejor funcionamiento de sistema
  • Ponga En Orden el sistema basado del detector para asegurar la medición rápida
  • Correlacione el espesor del film y el Índice De Refracción hasta 5 capas
  • El Sistema viene con la base de datos y la biblioteca ópticas completas de los constantes
  • Incluya las recetas de uso general
  • El Software Avanzado de TFProbe permite que el utilizador utilice el vector de NK, la dispersión o la aproximación efectiva de los media (EMA) para cada película individual.
  • Mejorable al sistema de correspondencia de MSP (Microspectrophotometer) con el reconocimiento de patrones, o a la Mancha Grande para correlacionar sobre la estructura modelada u ofrecida (con el Modelo de Zonerage)
  • Aplique a muchos diverso tipo de substratos con diverso espesor
  • gráficos el 2.o y del rendimiento 3D e interfaz convivial de la gestión de datos con resultados estadísticos

Aplicaciones

El Espesor Del Film SRM100 Que Correlaciona el Sistema de Medición se adapta para utilizar en:

  • Fabricación del Semiconductor (BANDA, Óxido, Nitruro.)
  • Pantalla de cristal líquido (ITO, BANDA, separación de la Célula .....)
  • Películas y materiales Biológicos
  • Capas Ópticas, TiO2, SiO2, TaO25 .....
  • Pastas del Semiconductor
  • Películas Funcionales en MEMS/MOEMS
  • Si Amorfo, nano y cristalino

Last Update: 31. January 2012 23:56

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