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Sistema de Medición Espectroscópico del Espesor Del Film del Reflectómetro SR300 y De las Tecnologías de Sun del Angstrom

El Sistema de Medición Espectroscópico del Espesor Del Film del Reflectómetro SR300 y Se puede utilizar para medir los espectros del espesor del film, del Índice de refracción, de la reflexión, de la transmisión y de amortiguación de las películas y de las capas del thinf.

Características

Las Características del Sistema de Medición Espectroscópico del Espesor Del Film del Reflectómetro SR300 y Son como sigue:

  • Fácil fijar
  • Fácil operatorio con la Ventana basó software
  • Las ópticas Avanzadas diseñan para el mejor funcionamiento de sistema
  • Ponga En Orden el sistema basado del detector para asegurar la medición rápida
  • Fuente de luz Únicamente diseñada para una mejor estabilidad de la intensidad
  • Hay cuatro maneras de ajustar intensidad de luz:
    • Ajuste del rendimiento de Potencia por la perilla de la fuente de alimentación
    • Inserte un filtro en muesca del filtro en el acceso de la salida del rendimiento pálido
    • Emita el ajuste de la talla
    • Ajuste del tiempo de Integración en Detector del software de TFProbe
  • Mida el espesor del film y el Índice De Refracción hasta 5 capas
  • Permita detectar espectros de la reflexión, de la transmisión y de amortiguación en milisegundos
  • Capaz ser utilizado para el espesor en tiempo real o en línea, supervisión del Índice de refracción
  • El Sistema viene con la base de datos y la biblioteca ópticas completas de los constantes
  • El Software Avanzado de TFProbe permite que el utilizador utilice el vector de NK, la dispersión o la aproximación efectiva de los media (EMA) para cada película individual.
  • Mejorable al sistema de MSP (Microspectrophotometer), sistema de Correspondencia de SRM, sistema del canal Múltiple, Mancha Grande para la medición directa sobre la estructura modelada u ofrecida
  • Aplique a muchos diverso tipo de substratos con diverso espesor
  • Los Diversos accesorios disponibles para las configuraciones especiales tales como medición corriente sobre la curva alisan
  • gráficos el 2.o y del rendimiento 3D e interfaz convivial de la gestión de datos

Aplicaciones

El Sistema de Medición Espectroscópico del Espesor Del Film del Reflectómetro SR300 y Se adapta para utilizar en:

  • Fabricación del Semiconductor (BANDA, Óxido, Nitruro.)
  • Pantalla de cristal líquido (ITO, BANDA, separación de la Célula .....)
  • Medecina Legal, películas Biológicas y materiales
  • Tintas, Mineralogía, Pigmentos, Toner
  • Productos Farmacéuticos, Dispositivos Intermedios
  • Capas Ópticas, TiO2, SiO2, Ta2O5 .....
  • Pastas del Semiconductor
  • Películas Funcionales en MEMS/MOEMS
  • Si Amorfo, nano y cristalino

Last Update: 31. January 2012 23:56

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