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SR300 オングストロームの日曜日の技術からの分光反射率計およびフィルム厚さの測定システム

SR300 分光反射率計及びフィルム厚さの測定システムが thinf のフィルムおよびコーティングのフィルム厚さ、 R.i.、反射、伝達および吸収スペクトルを測定するのに使用することができます。

機能

SR300 分光反射率計及びフィルム厚さの測定システムの機能は次の通りあります:

  • セットアップすること容易
  • Windows と作動すること容易ソフトウェアを基づかせていました
  • 高度の光学は最大のシステムパフォーマンスのために設計します
  • 速い測定を保障するために基づいた探知器システムを配列して下さい
  • よりよい強度の安定性のための一義的に設計されていた光源
  • 輝度を調節する 4 つの方法があります:
    • 電源からのノブによる出力の調節
    • 光熱出力の出口ポートでフィルタースロットにフィルターを挿入して下さい
    • サイズの調節を発して下さい
    • TFProbe のソフトウェアからの探知器の統合時間調節
  • 5 つの層までフィルム厚さおよび R.i. を測定して下さい
  • ミリ秒の反射、伝達および吸収スペクトルを得ることを割り当てて下さい
  • 可能リアルタイムかインライン厚さ、 R.i. のモニタリングに使用するため
  • システムは広範囲の光学定数データベースおよびライブラリと来ます
  • TFProbe の高度のソフトウェアはユーザーが各々の個々のフィルムのために NK 表、分散または有効な (EMA)媒体の近似を使用することを可能にします。
  • MSP (マイクロ・スペクトル光度計) システム、 SRM のマップシステム、マルチチャネルシステム、模造されたか、または特色にされた構造上の直接測定のための大きい点にアップグレード可能
  • 多くのに別のタイプの別の厚さの基板を加えて下さい
  • カーブ上の連続した測定のような特別な構成のために使用できるさまざまなアクセサリは浮上します
  • 第 2 および 3D 出力図形およびユーザーフレンドリーのデータ管理インターフェイス

アプリケーション

SR300 分光反射率計及びフィルム厚さの測定システムはで使用するために適します:

  • 半導体の製造 (PR の酸化物、窒化物。)
  • 液晶表示装置 (ITO、 PR のセルギャップ .....)
  • 討論、生物的フィルムおよび材料
  • インク、鉱物学、顔料、トナー
  • 医薬品、中間装置
  • 光学コーティング、 TiO2、 SiO2、 Ta2O5 .....
  • 半導体の混合物
  • MEMS/MOEMS の機能フィルム
  • 無定形、 nano および結晶 Si

Last Update: 31. January 2012 23:53

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