Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Спектроскопическая Система Измерения Толщины Рефлектометра SR300 и Фильма от Технологий Солнця Ангстрома

Спектроскопическую Систему Измерения Толщины Рефлектометра SR300 & Фильма можно использовать для того чтобы измерить толщину фильма, R.I., отражение, передачу и спектры поглощения фильмов и покрытий thinf.

Характеристики

Характеристики Спектроскопической Системы Измерения Толщины Рефлектометра SR300 & Фильма следующим образом:

  • Легко для того чтобы настроить
  • Легко для того чтобы работать с Окном основал ПО
  • Предварительная оптика конструирует для самой лучшей системной производительности
  • Оденьте основанную систему детектора для того чтобы обеспечить быстрое измерение
  • Уникально конструированный источник света для более лучшей стабилности интенсивности
  • 4 путя отрегулировать интенсивность света:
    • Регулировка выходной мощности ручкой от электропитания
    • Введите фильтр в шлиц фильтра на порте выхода выходного сигнала
    • Испустите Лучи регулировка размера
    • Регулировка времени Внедрения в Детекторе от ПО TFProbe
  • Измерьте толщину фильма и R.I. до 5 слоев
  • Позвольте приобрести отражение, передачу и спектры поглощения в миллисекундах
  • Способно быть использованным для в реальном масштабе времени или встроенной толщины, контроля R.I.
  • Система приходит с всесторонними оптически базой данных и архивом констант
  • Предварительное ПО TFProbe позволяет пользователю использовать или таблицу NK, рассеивание или эффективное приближение средств (EMA) для каждого индивидуального фильма.
  • Upgradeable к системе MSP (Microspectrophotometer), системе SRM Отображая, системе Множественного канала, Большому Пятну для сразу измерения над сделанной по образцу или отличенной структурой
  • Приложите к много разный вид субстратов с различной толщиной
  • Различное вспомогательное оборудование доступное для специальных конфигураций как идущее измерение над кривым отделывает поверхность
  • графики 2D и выхода 3D и дружественный интерфейс управления данными

Применения

Спектроскопическая Система Измерения Толщины Рефлектометра SR300 & Фильма одета для использования в:

  • Изготовление Полупроводника (PR, Окись, Нитрид.)
  • Дисплей Жидкостного кристалла (ITO, PR, зазор Клетки .....)
  • Судебная медицина, Биологические фильмы и материалы
  • Чернила, Минералогия, Пигменты, Тонеры
  • Фармацевтическая продукция, Медиальные Приборы
  • Оптически покрытия, TiO2, SiO2, Ta2O5 .....
  • Смеси Полупроводника
  • Функциональные фильмы в MEMS/MOEMS
  • Аморфический, nano и кристаллический Si

Last Update: 31. January 2012 23:56

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment