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SR300 从埃太阳技术的分光镜反射仪和胶片厚度测量系统

SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统可以用于评定 thinf 影片和涂层胶片厚度、 R.i.、反映、传输和吸收光谱。

功能

SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统的功能是如下:

  • 容易设置
  • 容易运行与视窗根据软件
  • 先进的光学为最佳的系统性能设计
  • 排列基于探测器系统保证快速评定
  • 更好的强度稳定性的唯一地被设计的光源
  • 有四种方式调整光强度:
    • 由瘤的功率输出调整从供电
    • 插入补白到补白槽在光辐射退出端口
    • 放光范围调整
    • 在探测器的综合化时间调整从 TFProbe 软件
  • 评定胶片厚度和 R.i. 至 5 块层
  • 在毫秒准许获取反映、传输和吸收光谱
  • 能够为实时或轴向厚度, R.i. 监控将使用
  • 系统来与全面光学常数数据库和图书馆
  • 先进的 TFProbe 软件允许用户为每部单个影片使用 NK 表、散射 (EMA)或者有效媒体近似值。
  • 可升级对 MSP (显微分光光度计) 系统, SRM 制图系统,多频道系统,直接测量的大地点在被仿造的或特色结构
  • 运用于许多基体的另外类型与另外厚度的
  • 多种辅助部件可用为特殊配置例如在曲线的连续评定出现
  • 第 2 和 3D 输出图象和用户友好数据管理界面

应用

SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统配合使用在:

  • 半导体制造 (PR,氧化物,氮化物。)
  • 液晶显示 (ITO, PR,细胞空白 .....)
  • 辩论术、生物影片和材料
  • 墨水,矿物学,颜料,调色剂
  • 配药,中间设备
  • 光学涂层, TiO2, SiO2, Ta2O5 .....
  • 半导体化合物
  • 在 MEMS/MOEMS 的功能影片
  • 无定形,纳诺和水晶 Si

Last Update: 31. January 2012 23:50

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