SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统可以用于评定 thinf 影片和涂层胶片厚度、 R.i.、反映、传输和吸收光谱。
功能
SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统的功能是如下：
- 容易设置
- 容易运行与视窗根据软件
- 先进的光学为最佳的系统性能设计
- 排列基于探测器系统保证快速评定
- 更好的强度稳定性的唯一地被设计的光源
- 有四种方式调整光强度：
- 由瘤的功率输出调整从供电
- 插入补白到补白槽在光辐射退出端口
- 放光范围调整
- 在探测器的综合化时间调整从 TFProbe 软件
- 评定胶片厚度和 R.i. 至 5 块层
- 在毫秒准许获取反映、传输和吸收光谱
- 能够为实时或轴向厚度， R.i. 监控将使用
- 系统来与全面光学常数数据库和图书馆
- 先进的 TFProbe 软件允许用户为每部单个影片使用 NK 表、散射 (EMA)或者有效媒体近似值。
- 可升级对 MSP (显微分光光度计) 系统， SRM 制图系统，多频道系统，直接测量的大地点在被仿造的或特色结构
- 运用于许多基体的另外类型与另外厚度的
- 多种辅助部件可用为特殊配置例如在曲线的连续评定出现
- 第 2 和 3D 输出图象和用户友好数据管理界面
应用
SR300 分光镜反射仪 & 胶片厚度测量系统配合使用在：
- 半导体制造 (PR，氧化物，氮化物。)
- 液晶显示 (ITO， PR，细胞空白 .....)
- 辩论术、生物影片和材料
- 墨水，矿物学，颜料，调色剂
- 配药，中间设备
- 光学涂层， TiO2， SiO2， Ta2O5 .....
- 半导体化合物
- 在 MEMS/MOEMS 的功能影片
- 无定形，纳诺和水晶 Si