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SR300 從埃太陽技術的分光鏡反射儀和膠片厚度測量系統

SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統可以用於評定 thinf 影片和塗層膠片厚度、 R.i.、反映、傳輸和吸收光譜。

功能

SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統的功能是如下:

  • 容易設置
  • 容易運行與視窗根據軟件
  • 先進的光學為最佳的系統性能設計
  • 排列基於探測器系統保證快速評定
  • 更好的強度穩定性的唯一地被設計的光源
  • 有四種方式調整光強度:
    • 由瘤的功率輸出調整從供電
    • 插入補白到補白槽在光輻射退出端口
    • 放光範圍調整
    • 在探測器的綜合化時間調整從 TFProbe 軟件
  • 評定膠片厚度和 R.i. 至 5 塊層
  • 在毫秒准許獲取反映、傳輸和吸收光譜
  • 能够為實時或軸向厚度, R.i. 監控將使用
  • 系統來與全面光學常數數據庫和圖書館
  • 先進的 TFProbe 軟件允許用戶為每部單個影片使用 NK 表、散射 (EMA)或者有效媒體近似值。
  • 可升級對 MSP (顯微分光光度計) 系統, SRM 製圖系統,多頻道系統,直接測量的大地點在被仿造的或特色結構
  • 運用於許多基體的另外類型與另外厚度的
  • 多種輔助部件可用為特殊配置例如在曲線的連續評定出現
  • 第 2 和 3D 輸出圖像和用戶友好數據管理界面

應用

SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統配合使用在:

  • 半導體製造 (PR,氧化物,氮化物。)
  • 液晶顯示 (ITO, PR,細胞空白 .....)
  • 辯論術、生物影片和材料
  • 墨水,礦物學,顏料,調色劑
  • 配藥,中間設備
  • 光學塗層, TiO2, SiO2, Ta2O5 .....
  • 半導體化合物
  • 在 MEMS/MOEMS 的功能影片
  • 無定形,納諾和水晶 Si

Last Update: 31. January 2012 23:50

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