SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統可以用於評定 thinf 影片和塗層膠片厚度、 R.i.、反映、傳輸和吸收光譜。
功能
SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統的功能是如下：
- 容易設置
- 容易運行與視窗根據軟件
- 先進的光學為最佳的系統性能設計
- 排列基於探測器系統保證快速評定
- 更好的強度穩定性的唯一地被設計的光源
- 有四種方式調整光強度：
- 由瘤的功率輸出調整從供電
- 插入補白到補白槽在光輻射退出端口
- 放光範圍調整
- 在探測器的綜合化時間調整從 TFProbe 軟件
- 評定膠片厚度和 R.i. 至 5 塊層
- 在毫秒准許獲取反映、傳輸和吸收光譜
- 能够為實時或軸向厚度， R.i. 監控將使用
- 系統來與全面光學常數數據庫和圖書館
- 先進的 TFProbe 軟件允許用戶為每部單個影片使用 NK 表、散射 (EMA)或者有效媒體近似值。
- 可升級對 MSP (顯微分光光度計) 系統， SRM 製圖系統，多頻道系統，直接測量的大地點在被仿造的或特色結構
- 運用於許多基體的另外類型與另外厚度的
- 多種輔助部件可用為特殊配置例如在曲線的連續評定出現
- 第 2 和 3D 輸出圖像和用戶友好數據管理界面
應用
SR300 分光鏡反射儀 & 膠片厚度測量系統配合使用在：
- 半導體製造 (PR，氧化物，氮化物。)
- 液晶顯示 (ITO， PR，細胞空白 .....)
- 辯論術、生物影片和材料
- 墨水，礦物學，顏料，調色劑
- 配藥，中間設備
- 光學塗層， TiO2， SiO2， Ta2O5 .....
- 半導體化合物
- 在 MEMS/MOEMS 的功能影片
- 無定形，納諾和水晶 Si