안동 Paar TTX Nanoindentation 검사자

안동 Paar 탁상용 계기는 완전한 플래트홈 윤곽이 적합하지 않거나 (NHT) 필요하지 않ㄹ을 일상적인 nanoindentation 테스트에 이상적으로 적응되는 작은과 간단하 에 사용 계기로 Nanoindentation 표준 검사자의 성과를 놓습니다.

탁상용 계기는 기계적인 경도 테스트를 위해 극단적으로 조밀한 특히 디자인해 인의 자산을 비치하고 있습니다. 그것은 다양한 자동화하는으로 구성될 수 있습니다 또는 특성의 순서를 따라 수동 견본 단계는 예산과 일치하여 일 필요가 있습니다. 그러므로, TTX는 특색지어진 안동 Paar nanoindentation 계기의 가득 차있는 기술적인 성과를 유지하 하는 동안 특별한 비용 효과적인 해결책을 제공합니다.

nanoindentation 헤드는 Nanoindentation 표준 검사자와 성과의 고도 동일을 도달합니다 (NHT). 게다가 그것은 공동 최빈값 (동적인 기계적인 분석 같이 선택적인 기술적인 특징에 업그레이드가 가능합니다: 저장과 손실 모듈은 또한 진지변환 단계 선택권과 통합한 영상 현미경의 범위로)와 구성될 수 있습니다.

논고

최대 부하

500 mN

짐 해결책

0.04 μN

최대 깊이   

200 μm

깊이 해결책 

0.04 nm

TTX는 수많은 테스트 윤곽을 제공하는 극단적으로 비용 효과 그러나 다중 상태 nanoindentation 시스템을 포위합니다:

  • 간단한 압흔
  • 향상된 압흔
  • 진보적인 다중 주기
  • 지속적인 다중 주기 (CMC)
  • 사용자 정의 순서
  • (선택) 공동 최빈값

탁상용 Nanoindentation 검사자는 통제 단위 및 분석 및 저장 소프트웨어를 통합합니다. 데이터와 HMI의 전시는 이중 17"로 LCD 모니터 제공됩니다.

Last Update: 3. October 2014 13:10

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