Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
Posted in | Scratch Testers

Appareil De Contrôle Nano de Brouillon d'Instruments de CSM (NST)

L'Appareil De Contrôle de Nano-Brouillon est particulièrement conçu pour la caractérisation de la défaillance pratique d'adhérence des films minces et des couches, avec une épaisseur typique en-dessous de 800 nanomètre. L'Appareil De Contrôle de Nano-Brouillon peut être utilisé notamment pour l'analyse d'organique et de minéral ; couches molles et dures. Pour illustrer quelques exemples qui sont PVD, CVD, PECVD, vernis photosensible minces et multicouche, les laques de peintures, divers autres types de films, couvert optique, microélectronique, protecteur, décoratifs et d'autres applications. Les Substrats peuvent être durs ou mous, y compris les matériaux d'alliages en métal, de semi-conducteurs, en verre, organiques et réfringents.

Caractéristiques techniques

  • Méthode de brouillon de stylet de Diamant
  • Inspection microscopique optique Robotisée
  • Déclencheur de force réglée de Contrôle Par Retour De L'information
  • Mesure de profondeur de Brouillon
  • Compatible à ASTM D7187

Options

  • Large gamme de pénétrateur rayant le stylet.
  • Modules Nanos/Micro de mesure de Dureté
  • Aspirateur, humidité et à température contrôlée
  • AFM et représentation de Conscan 3D

Last Update: 1. March 2013 08:59

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment