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アントン Paar Nano スクラッチテスター (NST)

アントン Paar Nano スクラッチテスター (NST)

Nano スクラッチテスターは 800 nm の下の典型的な厚さの薄膜そしてコーティングの実用的な付着の障害の性格描写のためにとりわけ、設計されています。 Nano スクラッチテスターは有機性および無機の分析のために特に使用することができます; 柔らかく、堅いコーティング。 薄く、多層 PVD、 CVD、 PECVD の光硬化性樹脂、ペンキのラッカー、装飾的な他のいろいろなタイプのフィルム、光学カバー、保護マイクロエレクトロニックであるおよび他のアプリケーションを少数の例説明するため。 基板は金属の合金、半導体、ガラスの、有機性および屈折する材料を含んで堅くまたは柔らかい、場合もあります。

機能

  • ダイヤモンド針スクラッチ方法
  • 自動化された光学顕微鏡の点検
  • フィードバック制御力のアクチュエーター
  • スクラッチ深さの測定
  • ASTM D7187 に互換性がある

オプション

  • スタイラスをスクラッチする圧子の広い範囲。
  • Nano/マイクロ硬度の測定のモジュール
  • 真空、湿気および温度調整された
  • AFM および Conscan 3D イメージ投射

Last Update: 23. December 2014 07:40

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