イオンビーム斜面のカッターのサンプル準備システム - Leica からの EM TIC 3X

やっとのことで変形または損傷のサンプルの内部構造を明らかにするほとんどあらゆる材料の良質の横断面を達成することは今までに一度も Leica EM TIC 3X を使用して今より便利、ではなかったです。

三重のイオンビームのカッター、 Leica EM TIC 3X はスキャンの電子顕微鏡検査のための懸命の横断面の生産を/柔らかく、多孔性、感熱、壊れやすい異質材料、 (SEM)微細構造の分析 (EDS、 WDS のオーガー、 EBSD) および、 AFM の調査可能にします。

3 つのイオンビーム (それぞれ制御される)、冷却の段階および多重サンプル段階は高速で、良質の横断面に終ってサンプルに広く、深い切断製粉を保障します。

機能

Leica EM TIC 3X の電子顕微鏡のサンプル準備システムの機能は下記のものを含んでいます:

  • トップレートのパフォーマンス
    一義的な三重のイオンビームシステムは断面品質を最適化し、広いおよび深く高速で切る機能の作業時間を減らします。 3 つまでのサンプルは 1 つのセッションで処理することができます。 これは Leica EM TIC 3X に高いスループット実験室のための完全な器械を作ります。
  • 設定可能なシステム
    準備の必要性によって Leica EM TIC は交換可能な段階 - 標準段階、多重サンプル段階 -- を使用するかまたは段階を冷却することによって 3X それぞれ設定することができます
  • 冷却の段階
    ゴム製および水溶性ポリマーファイバーのような感熱サンプルの良質、低温の処理は -150° C. へのサンプルホールダーそしてマスクを冷却することによって準備することができます。
  • サンプルホールダー
    ほとんどあらゆるサンプルの大きさのためのさまざまなサンプルホールダー
  • Ssurface の地形の明確な視覚化
    斜面の切断に加えて、同じホールダーはクリーニングおよび対照の機能拡張に使用することができます。

Leica のミクロシステム - 実行時間の 4:19 分からの EM TIC 3X 製粉システム

Last Update: 9. December 2013 19:34

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