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Sistema da Preparação da Amostra do Cortador da Inclinação do Feixe de Íon - TIQUE 3X do EM de Leica

Conseguir os secções transversais de alta qualidade de quase todo o material, revelando as estruturas internas da amostra com mal qualquer deformação ou dano era nunca antes mais conveniente do que agora, usando o TIQUE 3X do EM de Leica.

O Cortador Triplo do Feixe de Íon, TIQUE 3X do EM de Leica permite a produção de secções transversais de duramente/material sensível, frágil e heterogêneo macio, poroso, do calor - para a Microscopia de Elétron de Varredura (SEM), Análise da Microestrutura (EDS, WDS, Eixo Helicoidal, EBSD) e, investigações do AFM.

Três feixes de íon (controlados individualmente), a fase refrigerando e a fase múltipla da amostra asseguram a trituração em taxas altas, cortar largo e profundo na amostra tendo por resultado os secções transversais de alta qualidade.

Características

As Características do sistema da preparação da amostra do microscópio de elétron do TIQUE 3X do EM de Leica incluem:

  • Desempenho da Parte-Taxa
    O Sistema de Feixe Triplo Original do Íon aperfeiçoa a qualidade de secção transversal e reduz o tempo de funcionamento com sua capacidade para cortar largo e profundo em altas velocidades. Até três amostras podem ser processadas em uma sessão. Isto faz ao TIQUE 3X do EM de Leica um instrumento perfeito para laboratórios altos da produção.
  • Sistema Configurável
    Segundo suas necessidades da preparação o TIQUE do EM de Leica 3X pode ser configurado individualmente usando fases permutáveis - fase Padrão, fase Múltipla da amostra ou Refrigerando a fase
  • Fase Refrigerando
    Processamento da temperatura De Alta Qualidade, baixa do calor - as amostras sensíveis tais como as fibras de borracha e solúveis em água do polímero podem ser preparadas refrigerando para baixo o suporte e a máscara da amostra a -150° C.
  • Suportes da Amostra
    Vários suportes da amostra para quase cada tamanho da amostra
  • Visualização Claro da Topografia de Ssurface
    Além do que a estaca da inclinação, o mesmo suporte pode ser usado para o realce da limpeza e do contraste.

O Sistema de Trituração do TIQUE 3X do EM dos Microsistemas de Leica - actas do 4:19 do Tempo De Execução

Last Update: 9. December 2013 19:34

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