离子束倾斜切割工范例准备系统 - EM 从 Leica 的 TIC 3X

离子束倾斜切割工范例准备系统 - EM 从 Leica 的 TIC 3X

达到几乎所有材料的优质横断面,显示范例的内部结构以缺乏地任何变形或故障比现在以前从未方便,使用 Leica EM TIC 3X。

三次离子束切割工, Leica EM TIC 3X 允许横断面的生产艰苦/浏览的电子显微镜术的软,多孔,热敏感,易碎和异种材料 (SEM),微结构分析 (EDS, WDS,木钻, EBSD) 和, AFM 调查。

三离子束 (单个受控制),冷却的阶段和多个范例阶段保证碾碎以高速率,剪切清楚和深到这个范例造成优质横断面。

功能

Leica EM TIC 3X 电子显微镜范例准备系统的功能包括:

  • 顶比率性能
    唯一三次离子束系统优选这个短剖面质量并且减少工作时间以其能力深深高速剪切清楚和。 三个范例在一个会议上可以被处理。 这做 Leica EM TIC 3X 为高处理量实验室的一台理想的仪器。
  • 可配置系统
    通过使用可互换的阶段 - 标准阶段、多个范例阶段或者冷却的阶段,根据您的准备需要 Leica EM TIC 3X 可以单个配置
  • 冷却的阶段
    优质,低温处理热敏感范例例如橡胶和溶于水聚合物纤维可以通过冷却范例持有人和屏蔽准备对 -150° C。
  • 范例持有人
    几乎每样本大小的多种范例持有人
  • Ssurface 地势的清楚的形象化
    除倾斜剪切之外,同一个持有人可以为清洗和对比改进使用。

从 Leica 微系统 - 运行时 4:19 分钟的 EM TIC 3X 碾碎的系统

Last Update: 9. December 2013 19:33

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