離子束傾斜切割工範例準備系統 - EM 從 Leica 的 TIC 3X

離子束傾斜切割工範例準備系統 - EM 從 Leica 的 TIC 3X

達到幾乎所有材料的優質橫斷面,顯示範例的內部結構以缺乏地任何變形或故障比現在以前從未方便,使用 Leica EM TIC 3X。

三次離子束切割工, Leica EM TIC 3X 允許橫斷面的生產艱苦/瀏覽的電子顯微鏡術的軟,多孔,熱敏感,易碎和異種材料 (SEM),微結構分析 (EDS, WDS,木鑽, EBSD) 和, AFM 調查。

三離子束 (單個受控制),冷卻的階段和多個範例階段保證碾碎以高速率,剪切清楚和深到這個範例造成優質橫斷面。

功能

Leica EM TIC 3X 電子顯微鏡範例準備系統的功能包括:

  • 頂比率性能
    唯一三次離子束系統優選這個短剖面質量并且減少工作時間以其能力深深高速剪切清楚和。 三個範例在一個會議上可以被處理。 這做 Leica EM TIC 3X 為高處理量實驗室的一臺理想的儀器。
  • 可配置系統
    通過使用可互換的階段 - 標準階段、多個範例階段或者冷卻的階段,根據您的準備需要 Leica EM TIC 3X 可以單個配置
  • 冷卻的階段
    優質,低溫處理熱敏感範例例如橡膠和溶於水聚合物纖維可以通過冷卻範例持有人和屏蔽準備對 -150° C。
  • 範例持有人
    幾乎每樣本大小的多種範例持有人
  • Ssurface 地勢的清楚的形象化
    除傾斜剪切之外,同一個持有人可以為清洗和對比改進使用。

從 Leica 微系統 - 運行時 4:19 分鐘的 EM TIC 3X 碾碎的系統

Last Update: 9. December 2013 19:33

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