瀏覽的探測顯微鏡 (SPM) - 從 Bruker 的 Innova

瀏覽的探測顯微鏡 (SPM) - 從 Bruker 的 Innova

優越 AFM 性能和通用性研究的

從 Bruker 的 Innova 基本強制顯微鏡為應用靈活性在中等費用 - 理想提供高分辨率想像和各種各樣的功能研究用於生命科學、材料和實際研究。

所有權閉環掃描提供處理那些高端,開環系統和聘用實際、材料和生命科學的各種各樣的功能的噪聲級別,從亞顯微級別 90 微米。

功能

bruker Innova SPM 的功能包括:

  • 獨有的 Whisper™壓力掃描技術仅提供 AFM 性能和解決方法其次到多重狀態的 Bruker
  • 最高分辨率的光學提供更好的數據和準確探測確定
  • 快速技巧替換和優越範例存取提供便利和例外易用
  • 全方位 SPM 模式提供強大的研究靈活性
  • 自定義研究的先進的信號存取和運輸路線功能
  • 現在與黑暗的 Lift™,利用 Bruker 的給予專利的 LiftMode 功能,使您區分在內在電子範例屬性和光電效應之間

Last Update: 12. February 2015 11:50

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