Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

瀏覽的探測顯微鏡 (SPM) - 從 Bruker 的 Innova

在其選件類的最低噪聲,最高分辨率的基本強制顯微鏡

從 Bruker 的 Innova 基本強制顯微鏡比其他 SPM 提供更多性能和靈活性在一個很大的價值。 所有權閉環掃描提供處理那些高端,開環系統和聘用實際、材料和生命科學的各種各樣的功能的噪聲級別,從亞顯微級別 90 微米。

Bruker 基本強制顯微鏡的集成 AFM 喇曼想像系統 (虹膜) 模塊通過結合化工或晶體信息啟用 AFM 和喇曼分光學的無縫的混合 (喇曼分光學) 在高空間和光譜分辨率,與最先進的 nanoscale 機械,電子和熱量 AFM 描述特性。 虹膜模塊支持 Innova 和 BioScope™ Catalyst™ AFM 系統,提供結合技術實驗控制為對材料和生命科學應用的先進的研究。 要創建 AFM 喇曼分光學系統,请選擇您的 AFM 平臺并且添加科學的 HORIBA, Renishaw 或者普林斯頓儀器喇曼顯微鏡。 對於生命科學應用,您能從蔡司、 Leica、奧林匹斯山或者 Nikon 也添加一個被倒置的光學顯微鏡。

然而您剪裁您的系統,您的應用將受益於這個最佳的技巧保存和最低的偏差,保證對準線甚而在必要光學的綜合化時間期間保留詢問弱的喇曼散射體。

功能

bruker Innova SPM 的功能包括:

  • 獨有的 Whisper™壓力掃描技術仅提供 AFM 性能和解決方法其次到多重狀態的 Bruker
  • 最高分辨率的光學提供更好的數據和準確探測確定
  • 快速技巧替換和優越範例存取提供便利和例外易用
  • 全方位 SPM 模式提供強大的研究靈活性
  • 自定義研究的先進的信號存取和運輸路線功能
  • 現在與黑暗的 Lift™,利用 Bruker 的給予專利的 LiftMode 功能,使您區分在內在電子範例屬性和光電效應之間

Last Update: 23. January 2012 04:50

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment