多重狀態的基本強制顯微鏡 (AFM) - 多重狀態 8 從 Bruker

多重狀態的基本強制顯微鏡 (AFM) - 多重狀態 8 從 Bruker

從 Bruker 的 MultiMode® 8 基本 (AFM)強制顯微鏡是您會期望非常多重狀態的顯微鏡平臺規定高分辨率基本強制顯微學想像的標準 15 年的一切。 現在,最新的多重狀態的 8 AFM 系統合併採取著名的多重狀態的基本強制顯微鏡平臺對更高的水平性能、速度和易用的驚奇的新的功能和輔助部件。

高性能和解決方法

  • 嚴格的機械設計和科技目前進步水平低噪聲,高帶寬 NanoScope® V 管理員電子聯合收穫機啟用超離頻的解決方法的和革命想像模式喜歡 ScanAsyst®、 ScanAsyst HR 和 PeakForce QNM®
  • Bruker 的獨有的高峰強制 Tapping® 技術比對 TappingMode™啟用極為低低技巧範例交往強制可能的

更加快速和更加有生產力

  • 新的高速 ScanAsyst HR 現在是可用的,啟用在多重狀態的 8 AFM 系統的快速掃描。 享用至 20X 更加快速的調查掃瞄速率和至 6X 快速地瀏覽沒有解決方法損失

滿足更多應用的通用性

  • 多重狀態 8 AFM 同樣好地適用與在航空和流體的想像
  • 各種各樣的溫度和環境控制輔助部件為多重狀態的 8 AFM 系統是可用的
  • 標準操作方式一個大種類和許多唯一功能使多重狀態的 8 AFM 系統分析一切從機械到電子屬性

更加容易的專家質量結果

  • Bruker 的所有權 ScanAsyst 基本強制顯微學掃描技術模式提供快速的地自動圖像優化,更加一致的結果。 它不斷地將調整掃瞄速率,調整點和收益得到最優質的圖像
  • 在流體的想像從未是更加容易。 沒有對懸臂式調整的需要,并且 ScanAsyst 不斷地監控技巧範例交往強制,從而消滅調整點偏差

獨有 & 強大的定量想像模式

  • PeakForce QNM 啟用直接映射 nanomechanical 屬性,包括彈性模數、黏附力和散逸,以高分辨率和正常掃瞄速率。 數據通道是定量和毫不含糊的,不同於常規階段想像和一些競爭的多頻的技術
  • PeakForce TUNA™啟用映射在不可能是印象的與常規導電性 AFM 的精美範例的定量傳導性

Last Update: 23. January 2012 04:50

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