Renishaw ha desarrollado la tecnología optimizada del empalme directo que hacía el microscopio de Raman del inVia al socio perfecto para acoplar a una amplia variedad de SPM, de Espectroscopia Aumentada Punta de ofrecimiento de Raman (TERS), de técnicas del campo cercano (SNOM, NSOM) y de capacidades Raman-AFM.
El microscopio de Raman del inVia ofrece el potencial para acoplar a cualquier SPM o AFM, con los sistemas completo integrados disponibles con los analizadores de NT-MDT.
Sistemas de la visualización y de análisis de la NanotecnologÃa para la investigación y la industria
- Mida las propiedades físicas en la resolución molecular y el análisis químico en la escala del sub-micrómetro
- Correlación Simultánea de las garantías de Raman y del AFM entre las imágenes
- Una solución de la plataforma proporciona a confianza, a confiabilidad, y a facilidad de empleo.
El Renishaw integró completo Raman con el AFM de características de NT-MDT:
- Renishaw Simultáneo Raman y proyección de imagen del AFM, con el papel de la imagen
- AFM para las altas imágenes de la resolución espacial:
alto-pliego de condiciones, ultra-inferior-ruido NT-MDT NTEGRA - Microscopia de Raman para la identificación química inequívoca: microscopio completo-flexible de Raman del inVia de Renishaw
- Completo TERS capaz (el dispersar punta-aumentado de Raman)
- El acoplamiento óptico directo Muy eficiente (ningunas fibras ópticas) disminuye tiempos de la medición de Raman
- el inVia utiliza una amplia gama de longitudes de onda de la excitación de Raman, activando el análisis de los materiales más desafiadores
- Disponible con el montante y los microscopios invertidos de la geometría
- Mando del software Integrado de un único ordenador