Renishaw desenvolveu a tecnologia aperfeiçoada do acoplamento directo que faz ao microscópio de Raman do inVia o sócio perfeito para acoplar-se a uma grande variedade de SPM, de Espectroscopia Aumentada Ponta de oferecimento de Raman (TERS), de técnicas do próximo-campo (SNOM, NSOM) e de capacidades Raman-AFM.
O microscópio de Raman do inVia oferece o potencial para acoplar-se a todo o SPM ou AFM, com os sistemas inteiramente integrados disponíveis com os varredores de NT-MDT.
Sistemas do visualisation e de análise da Nanotecnologia para a pesquisa e a indústria
- Meça propriedades físicas na definição molecular e a análise química na escala do secundário-micrômetro
- Correlação Simultânea das garantias de Raman e de AFM entre imagens
- Uma solução da plataforma fornece a confiança, a confiança, e a acessibilidade.
O Renishaw integrou inteiramente Raman com o AFM das características de NT-MDT:
- Renishaw Simultâneo Raman e imagem lactente do AFM, com folha de prova da imagem
- AFM para imagens altas da definição espacial:
alto-especificação, ultra-baixo-ruído NT-MDT NTEGRA - Microscopia de Raman para a identificação química inequívoca: microscópio completo-flexível de Raman do inVia de Renishaw
- Inteiramente TERS capaz (dispersão ponta-aumentada de Raman)
- O acoplamento óptico directo Altamente eficiente (nenhumas fibras ópticas) minimiza tempos da medida de Raman
- o inVia apoia uma vasta gama de comprimentos de onda da excitação de Raman, permitindo a análise dos materiais os mais desafiantes
- Disponível com verticalidade e os microscópios invertidos da geometria
- Controle Integrado do software de um único computador