Renishaw Raman com o AFM Inteiramente Integrado

Renishaw Raman com o AFM Inteiramente Integrado

Renishaw desenvolveu a tecnologia aperfeiçoada do acoplamento directo que faz ao microscópio de Raman do inVia o sócio perfeito para acoplar-se a uma grande variedade de SPM, de Espectroscopia Aumentada Ponta de oferecimento de Raman (TERS), de técnicas do próximo-campo (SNOM, NSOM) e de capacidades Raman-AFM.

O microscópio de Raman do inVia oferece o potencial para acoplar-se a todo o SPM ou AFM, com os sistemas inteiramente integrados disponíveis com os varredores de NT-MDT.

Sistemas do visualisation e de análise da Nanotecnologia para a pesquisa e a indústria

  • Meça propriedades físicas na definição molecular e a análise química na escala do secundário-micrômetro
  • Correlação Simultânea das garantias de Raman e de AFM entre imagens
  • Uma solução da plataforma fornece a confiança, a confiança, e a acessibilidade.

O Renishaw integrou inteiramente Raman com o AFM das características de NT-MDT:

  • Renishaw Simultâneo Raman e imagem lactente do AFM, com folha de prova da imagem
  • AFM para imagens altas da definição espacial:
    alto-especificação, ultra-baixo-ruído NT-MDT NTEGRA
  • Microscopia de Raman para a identificação química inequívoca: microscópio completo-flexível de Raman do inVia de Renishaw
  • Inteiramente TERS capaz (dispersão ponta-aumentada de Raman)
  • O acoplamento óptico directo Altamente eficiente (nenhumas fibras ópticas) minimiza tempos da medida de Raman
  • o inVia apoia uma vasta gama de comprimentos de onda da excitação de Raman, permitindo a análise dos materiais os mais desafiantes
  • Disponível com verticalidade e os microscópios invertidos da geometria
  • Controle Integrado do software de um único computador

Last Update: 11. January 2012 04:50

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