Renishaw Raman с Польностью Интегрированным AFM

Renishaw Raman с Польностью Интегрированным AFM

Renishaw начало оптимизированную технологию сразу соединения делая микроскопом Raman inVia совершенный соучастника для соединять к большому разнообразию SPM, предлагая Увеличенной Подсказкой Спектроскопии Raman (TERS), методов близко-поля (SNOM, NSOM) и возможностей Raman-AFM.

Микроскоп Raman inVia предлагает потенциал для соединять к любым SPM или AFM, с полно интегрированными системами доступными с блоками развертки от NT-MDT.

Визуализирование и ситемы анализа Нанотехнологии для исследования и индустрии

  • Измерьте физические свойства на молекулярном разрешении и химический анализ на маштабе sub-микрометра
  • Одновременная корреляция гарантий Raman и AFM между изображениями
  • Одно разрешение платформы предусматривает доверие, надежность, и легкий в использовании.

Renishaw полно интегрировало Raman с AFM от характеристик NT-MDT:

  • Одновременное Renishaw Raman и воображение AFM, с верхним слоем изображения
  • AFM для высоких изображений пространственного разрешения:
    высок-спецификация, ультра-низк-шум NT-MDT NTEGRA
  • Микроскопия Raman для точно выраженного химического идентификации: полн-гибкий микроскоп Raman inVia Renishaw
  • Полно TERS способное (подсказк-увеличенный разбрасывать Raman)
  • Сильно эффективное сразу оптически соединение (отсутствие стекловолокон) уменьшает времена измерения Raman
  • inVia поддерживает широкий диапазон длин волны возбуждения Raman, включающ анализ самых трудных материалов
  • Доступно с upright и перевернутыми микроскопами геометрии
  • Управление Интегрированного ПО от одиночного компьютера

Last Update: 11. January 2012 04:51

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier