Sistema de SEM-Raman de Renishaw

Sistema de SEM-Raman de Renishaw

El analizador estructural y químico del Renishaw (SCA) une dos tecnologías establecidas, microscopia electrónica de exploración (SEM) y espectroscopia de Raman, dando por resultado una técnica potente y única que permita análisis morfológico, elemental, químico, físico, y electrónico sin la mudanza de la muestra entre los instrumentos.

Capacidades

  • Número atómico de la Morfología y del medio de SEM (SEI y BEI)
  • Composición Elemental del análisis del EDS
  • Composición Química e identificación de la espectroscopia de Raman
  • Estructura Física (datos cristalográficos y mecánicos) de la espectroscopia de Raman
  • Estructura Electrónica y física de las espectroscopias del CL y del PL

Aplicaciones

  • Ciencia Material - la corrosión estudia, los materiales electrónicos, polímeros, compuestos
  • Semiconductores - identificación de la contaminación de la partícula
  • Productos Farmacéuticos - identificación de la capa, del rellenador y del excipiente, estudios del polimorfismo
  • Ciencia Forense - identificación de los explosivos, drogas, fibras, pigmentos

Ventajas

  • SEM Simultáneo y espectroscopia de Raman
    Las Características del interés se pueden establecer fácilmente usando SEM. Éstos se pueden entonces determinar rápidamente e inequívoco usando la espectroscopia de Raman.
  • Imágenes del EDS y de la luz blanca de la misma posición de la muestra
    Los espectros del EDS, las correspondencias, y las imágenes de la luz blanca se pueden detectar de la misma posición de la muestra que la imagen de SEM y los espectros de Raman.
  • Espectroscopias (CL) de la Catodoluminiscencia y (PL) del photoluminescence
    Las ópticas de la colección de Raman son totalmente compatibles con espectroscopias del PL y del CL. Las aplicaciones anteriores un laser como la fuente de la excitación, este último el haz electrónico. Cada técnica puede revelar la información electrónica y física sobre la muestra, y el CL puede ser sensible a los cambios muy sutiles en la composición y la deformación residual.

Last Update: 11. January 2012 04:53

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