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SEM-Raman Système de Renishaw

L'analyseur de Renishaw structurale et chimique (CSA) réunit deux technologies bien établies, microscopie électronique à balayage (MEB) et la spectroscopie Raman, résultant en une technique puissante et unique qui permet l'analyse morphologique, élémentaire, chimiques, physiques et électroniques, sans déplacement de l'échantillon entre les instruments.

Capacités

  • Morphologie et signifie numéro atomique de SEM (SEI et BEI)
  • Composition élémentaire de l'analyse EDS
  • La composition chimique et l'identification de la spectroscopie Raman
  • La structure physique (données cristallographiques et mécaniques) de la spectroscopie Raman
  • Structure électronique et physique de CL et PL spectroscopies

Applications

  • La science des matériaux - des études de la corrosion, les matériaux électroniques, polymères, composites
  • Semi-conducteurs - l'identification contamination par des particules
  • Pharmaceuticals - revêtement, de remplissage et d'identification excipient, études de polymorphisme
  • La science médico-légale - l'identification des explosifs, des médicaments, fibres, pigments

Avantages

  • Simultanée MEB et spectroscopie Raman
    Caractéristiques d'intérêt peut être facilement localisé en utilisant le SEM. Ceux-ci peuvent alors être identifiées rapidement et sans ambiguïté, en utilisant la spectroscopie Raman.
  • EDS et blanc des images en lumière de la position même échantillon
    EDS spectres, des cartes et des images en lumière blanche peut être acquis auprès de la position même échantillon que l'image SEM et les spectres Raman.
  • Cathodoluminescence (CL) et de photoluminescence (PL) spectroscopies
    L'optique de collection Raman sont entièrement compatibles avec les deux PL et spectroscopies CL. La première utilise un laser comme source d'excitation, ce dernier le faisceau d'électrons. Chaque technique peut révéler des informations à la fois électroniques et physiques sur l'échantillon, et CL peuvent être sensibles à des changements très subtils dans la composition et la contrainte résiduelle.

Last Update: 20. October 2011 10:44

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