Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Sistema de SEM-Raman de Renishaw

O analisador estrutural e químico do Renishaw (SCA) une duas tecnologias bem conhecidas, microscopia de elétron de varredura (SEM) e espectroscopia de Raman, tendo por resultado uma técnica poderosa e original que permita a análise morfológica, elementar, química, física, e eletrônica sem mover a amostra entre instrumentos.

Capacidades

  • Número atômico da Morfologia e do meio de SEM (SEI e BEI)
  • Composição Elementar da análise do EDS
  • Composição Quimica e identificação da espectroscopia de Raman
  • Estrutura Física (dados crystallographic e mecânicos) da espectroscopia de Raman
  • Estrutura Eletrônica e física das espectroscopias do CL e do PL

Aplicações

  • Ciência de Materiais - a corrosão estuda, materiais eletrônicos, polímeros, compostos
  • Semicondutores - identificação da contaminação da partícula
  • Fármacos - identificação do revestimento, do enchimento e do excipiente, estudos do polimorfismo
  • Ciência forense - identificação dos explosivos, drogas, fibras, pigmentos

Vantagens

  • SEM Simultâneo e espectroscopia de Raman
    As Características do interesse podem facilmente ser encontradas usando SEM. Estes podem então ser identificados ràpida e inequìvoca usando a espectroscopia de Raman.
  • Imagens do EDS e da luz branca da mesma posição da amostra
    Os espectros do EDS, os mapas, e as imagens da luz branca podem ser adquiridos da mesma posição da amostra que a imagem de SEM e os espectros de Raman.
  • Espectroscopias (CL) do Cathodoluminescence e (PL) do photoluminescence
    Os sistemas óticos da coleção de Raman são inteiramente - compatíveis com espectroscopias do PL e do CL. Os usos anteriores um laser como a fonte da excitação, o último o feixe de elétron. Cada técnica pode revelar a informação eletrônica e física sobre a amostra, e o CL pode ser sensível às mudanças muito subtis na composição e na tensão residual.

Last Update: 11. January 2012 04:50

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment