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從 Renishaw 的 SEM 喇曼系統

Renishaw 結構上和化工分析程序 (SCA)團結二源遠流長的技術,瀏覽的電子顯微鏡術 (SEM)和喇曼分光學,造成允許形態,基本,化工,實際和電子分析,无需移動這個範例在儀器之間的一個強大和唯一技術。

功能

  • 從 SEM 的形態學和平均值原子數 (SEI 和 BEI)
  • 從 EDS 分析的基本構成
  • 化學成分和確定從喇曼分光學
  • 物理結構 (晶體和機械數據) 從喇曼分光學
  • 從分類和 PL 分光學的電子和物理結構

應用

  • 材料學 - 腐蝕學習,電子材料,聚合物,綜合
  • 半導體 - 微粒汙穢確定
  • 配藥 - 塗層、補白和賦形劑確定,多形性研究
  • 法醫學 - 炸藥,藥物,纖維,顏料的確定

好處

  • 同時 SEM 和喇曼分光學
    使用 SEM,功能利益可以容易地設置。 使用喇曼分光學,這些可能迅速地和毫不含糊地然後被識別。
  • 從同一個範例位置的 EDS 和白光圖像
    EDS 光譜、映射和白光圖像可以從範例位置獲取和 SEM 圖像和喇曼光譜一樣。
  • 陰極發光 (CL)和 photoluminescence (PL) 分光學
    喇曼收集光學與 PL 和分類分光學是完全兼容的。 前面的用途激光作為勵磁來源,後者電子束。 每個技術可能暴露關於這個範例的電子和實際信息,并且分類可以是敏感的對非常在構成和殘餘的張力上的細微的變化。

Last Update: 23. January 2012 04:50

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