Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Разносторонний 3D Оптически Profiler Без разрушения - MP CCI от Тейлора Hobson

Profiler MP Benchtop 3D CCI Оптически от Тейлора Hobson приносит высокой эффективности оптически измерения в пределах достигаемости и компаний изготавливания и исследования точности.

MP CCI Talysurf предварительный тип интерферометра измерения (non Profiler контакта 3D). Он использует новаторский, запатентованный алгоритм корреляции для того чтобы найти пик сцепления и положение участка интерференционной картины произведенной нашим блоком оптически скеннирования точности.

Гибкость

MP CCI Talysurf неоцененн для много применений требуя анализа профиля высокой точности 3D. Разнообразие задачи доступны и могут быть приспособлены одновременно к башенке, позволяющ много типов поверхности быть измеренным. Польностью автоматизированный этап и автоматические режимы измерения добавляют к высокому уровню гибкости.

Все типы поверхностей можно измерить

Многосторонность одна ключевая выгода Profiler 3D MP CCI Talysurf внеконтактного. Отполированные или грубые, изогнутые, плоские или шагнутые поверхности с отражательной способностью между 0,3% и 100% можно все измерить используя один одиночный алгоритм, без потребности изменить режим для различных поверхностей и никакие заботы о неправильном будучи выбиранными режиме.

Все материальные типы измеряемый включать:
стекло, жидкостные чернила, фото сопротивляет, metal, полимер и затиры

Last Update: 1. November 2013 08:18

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment