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Ultra Profileur Optique de la Précision 3D - CCI HD de Taylor Hobson

Profileur Optique avec la capacité de mesure de couche mince et épaisse

Le CCI HD neuf fusionne la capacité dimensionnelle de non contact principale mondiale de mesure avec la technologie avancée de couche mince et épaisse.

Le CCI de Talysurf fournit des résultats que vous pouvez espérer pour la principale performance d'industrie…

Les Caractéristiques techniques du CCI HD comprennent :

  • Mesure d'épaisseur de Film 5 du ¼ m vers le bas à 300 nanomètre ou moins
  • 4 millions d'appareil-photo de pixel pour la représentation de haute résolution au-dessus d'une vaste zone
  • Automatique-Domaine et automatique-frange-découverte pour la simplicité d'utilisation
  • Mode de fonctionnement Unique sur tous les domaines d'échographie pour des données que vous pouvez espérer
  • Mécanisme Intense, stable et robuste de lecture de la boucle bloquée Z

Représentation Élevée de Définition

Plus Facile, Plus Rapide, Meilleur - mesure de haute résolution sur le CCI HD

« Le mouvement aux détecteurs élevés de définition a ouvert beaucoup de possibilités neuves ; le rassemblement des données de haute résolution au-dessus des vastes zones fournit rapidement l'indemnité à toutes les abonnées. » M. Mike Conroy - Spécialiste en Interféromètre

Plus Facile - Ces appareils-photo enlèvent le besoin de bloc optique de CHAMP DE VISION et réduisent la commutation constante des objectifs exigés avec les interféromètres traditionnels, réduisant le coût général et la complexité de l'exploitation du système.

Plus Vite - La capacité de mesurer à la haute résolution au-dessus des vastes zones signifie qu'il y a moins de besoin de mesure piquée. Quand piquer est exigé de plus grandes zones signifient que la vitesse de la collecte des informations est grand améliorée.

Meilleur - changer de plan de logiciel peut être employé pour étudier des zones multiples d'une mesure unique ; le grand nombre de datapoints permet la mesure de la rugosité et du caractère onduleux d'un ensemble de données.

Last Update: 1. November 2013 08:17

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