TEM/詞根的/SEM/EPMA/木鑽創新試樣制備方法
離子切片機可能準備薄膜標本，不用溶劑或化學製品并且不要求這個標本的前期處理除長方形切之外 (研沒有光盤研或的笑渦)。
離子切片機準備更加快速薄膜的標本和更加容易地比常規準備工具。 低能源，低角度 Ar 離子束照耀，當一條稀薄的盾傳送帶允許 Ar 離子束的低角度輻照區域時 (從 0° 到 6°)，激烈地減少離子束對這個標本的這個標本輻照區域故障。 這個結果是與少量飛濺人工製品的優質薄膜--甚而在軟的材料。 離子切片機可能高效地準備從有的標本的薄膜不同的構成，有甚而的那些多孔綜合。
高亮度顯示包括：
- 優質 TEM 預處理
- 快速準備
- 沒有複雜預處理
- 最小的表面缺陷