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Polisseur En Coupe pour la Préparation des Échantillons de SEM de JEOL

Préparez pour être stupéfié. Le Polisseur En Coupe de JEOL produit les coupes transversales d'origine d'échantillons - dur, doux, ou des composés - sans les enduire, s'émietter, fausser, ou contaminer de quelque façon. Il n'y a aucun précédent pour un instrument de sectionnement croisé de ce type pour la préparation des échantillons de SEM, d'EPMA, et de SAM.

La capacité de produire les coupes transversales parfaites de papier, de schiste, de levure, de petits programmes de latex, de couches, et d'obligations de fil, ou de produire une surface reflétée sur les matériaux mous tels que l'or, les polymères, la céramique, et la glace a grand la recherche améliorée et l'analyse pour plusieurs de nos abonnées.

Le CP emploie une poutre d'argon pour fraiser des coupes transversales ou pour polir pratiquement n'importe quel matériau qui est apposé au support d'échantillon rotatif continuellement. Le microscope optique de haute énergie permet à l'utilisateur de positionner un échantillon à dans quelques microns de la position en coupe précise. Pendant le fraisage, l'échantillon est oscillé automatiquement pour éviter de produire des striations de poutre sur la surface en coupe par croix. En Raison de l'incidence jetante un coup d'oeil du faisceau d'ions, l'argon n'est pas implanté dans la surface témoin.

Affichons-te les capacités remarquables de cet instrument de préparation des échantillons pour vos propres échantillons.

Last Update: 11. January 2012 04:39

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