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SEM 范例准备的短剖面磨光器从 JEOL

准备惊奇。 JEOL 的短剖面磨光器导致范例的原始横断面 - 艰苦,软件或者综合 -,无需抹上,粉碎,误解或者沾染他们在任何情况下。 没有此类型的一台交叉区分的仪器的先例 SEM、 EPMA 和 SAM 范例的准备。

这个能力创建文件,页岩,酵母,乳汁的理想的横断面成串珠状,涂层和电汇债券,或者创建在软的材料的反映的表面例如金子,聚合物、陶瓷和玻璃非常地提高了研究和分析许多的我们的客户。

CP 使用一条氩射线碾碎横断面或擦亮实际上被添加不断地转动的范例持有人的所有材料。 大功率光学显微镜允许这个用户确定一个范例到在这个准确的短剖面位置的一些微米内。 在碾碎期间,自动地晃动这个范例避免创建在交叉被区分的表面的射线线状。 由于离子束,氩的粗略的入射没有被种入到范例表面。

让我们显示您此范例准备仪器的卓越的功能为您自己的范例的。

Last Update: 11. January 2012 04:36

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