SEM 範例準備的短剖面磨光器從 JEOL

準備驚奇。 JEOL 的短剖面磨光器導致範例的原始橫斷面 - 艱苦,軟件或者綜合 -,无需抹上,粉碎,誤解或者沾染他們在任何情況下。 沒有此類型的一臺交叉區分的儀器的先例 SEM、 EPMA 和 SAM 範例的準備。

這個能力創建文件,頁岩,酵母,乳汁的理想的橫斷面成串珠狀,塗層和電匯債券,或者創建在軟的材料的反映的表面例如金子,聚合物、陶瓷和玻璃非常地提高了研究和分析許多的我們的客戶。

CP 使用一條氬射線碾碎橫斷面或擦亮實際上被添加不斷地轉動的範例持有人的所有材料。 大功率光學顯微鏡允許這個用戶確定一個範例到在這個準確的短剖面位置的一些微米內。 在碾碎期間,自動地晃動這個範例避免創建在交叉被區分的表面的射線線狀。 由於離子束,氬的粗略的入射沒有被種入到範例表面。

讓我們顯示您此範例準備儀器的卓越的功能為您自己的範例的。

Last Update: 23. January 2012 04:50

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment