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Preparación de la Muestra de Gatan Ilion+ para la Preparación Superficial Planar de la Nanotecnología para los Cortes Transversales de SEM

El Gatan Ilion™+ es un avance importante en la preparación de cortes transversales planares de las muestras difíciles para la proyección de imagen y el microanálisis microscópicos. El diseño+ de Ilion se basa en el GatanPIPS™ probado (Sistema de Pulido del Ión de la Precisión). Este campo probado, plataforma robusta representa el estándar industrial en funcionamiento amplio del haz de ión y la confiabilidad con millares de unidades instaló por todo el mundo. El sistema es fácil instalar y operatorio permitir que los utilizadores comiencen a hacer muestras rápidamente.

Antecedentes

La revolución en materiales nano-dirigidos está spawn/generando nuevas combinaciones de elementos y de pastas. Muchas de las nuevas combinaciones materiales son cualquier mezclas exóticas de la fase (compuestos) o estructuras acodadas de la película fina (dispositivos) esa hazaña las propiedades deseadas de los nano-materiales componentes de las maneras que dan lugar a productos extraordinarios. Para entender el lazo espacial y la ordenación nano-estructural de los materiales componentes, los investigadores deben verlos en el nivel molecular o atómico usando SPM, TEM, y SEM.

Cada Vez Más, las combinaciones de los materiales exóticos usados en películas finas polifásicas y de varias capas no están bien adaptadas al pulido mecánico ni MIENTEN fresar. Los materiales Suaves tienden a manchar o a delaminated de la estructura vecina mientras que los materiales duros o quebradizos fracturan o vierten partículas en regiones vecinas. El resultado es un cambio inaceptable de la ordenación verdadera de las características. Lo mismo es verdad con los compuestos donde los granos discretos o las fases se pueden torcer por las fuerzas que pelan de la información espacial crítica de pulido, efectivo de destrucción y de introducir las anomalías químicas que afectan a EDX subsiguiente o a los resultados superficiales del análisis.

Last Update: 11. January 2012 04:53

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